材料分析測試技術試卷

2021-03-04 01:32:54 字數 2069 閱讀 5968

一、 選擇題:(8分/每題1分)

1. .當x射線將某物質原子的k層電子打出去後,l層電子回遷k層,多餘能量將另乙個l層電子打出核外,這整個過程將產生()。

a. 光電子;b. 二次螢光;c. 俄歇電子;d. (a+c)

2. 有一體心立方晶體的晶格常數是0.286nm,用鐵靶kα(λkα=0.194nm)照射該晶體能產生()衍射線。

a. 三條; b .四條; c. 五條;d. 六條。

3. .最常用的x射線衍射方法是()。

a. 勞厄法;b. 粉末多晶法;c. 周轉晶體法;d. 德拜法。

4. .測定鋼中的奧氏體含量,若採用定量x射線物相分析,常用方法是()。

a. 外標法;b. 內標法;c. 直接比較法;d. k值法。

5. 可以提高tem的襯度的光欄是( )。

a. 第二聚光鏡光欄;b. 物鏡光欄;c. 選區光欄;d. 其它光欄。

6. 如果單晶體衍射花樣是正六邊形,那麼晶體結構是()。

a. 六方結構;b. 立方結構;c. 四方結構;d. a或b。

7. .將某一衍射斑點移到螢光屏中心並用物鏡光欄套住該衍射斑點成像,這是()。

a. 明場像;b. 暗場像;c. 中心暗場像;d.弱束暗場像。

8. 僅僅反映固體樣品表面形貌資訊的物理訊號是()。

a. 背散射電子;b. 二次電子;c. 吸收電子;d.透射電子。

二、 判斷題:(8分/每題1分)

1. 產生特徵x射線的前提是原子內層電子被打出核外,原子處於激發狀態。( √)

2. 倒易向量能唯一地代表對應的正空間晶面。()

3. 大直徑德拜相機可以提高衍射線接受解析度,縮短暴光時間。()

4. x射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相,而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有什麼成分。()

5. 有效放大倍數與儀器可以達到的放大倍數不同,前者取決於儀器解析度和人眼解析度,後者僅僅是儀器的製造水平。()

6. 電子衍射和x射線衍射一樣必須嚴格符合布拉格方程。()

7. 實際電鏡樣品的厚度很小時,能近似滿足衍襯運動學理論的條件,這時運動學理論能很好地解釋襯度像。()

8. 掃瞄電子顯微鏡的襯度和透射電鏡一樣取決於質厚襯度和衍射襯度。()

三、 填空題:(14分/每2空1分)

1. 電子衍射產生的複雜衍射花樣是和

2. 當x射線管電壓低於臨界電壓僅可以產生 x射線;當x射線管電壓超過臨界電壓就可以產生 x射線和x射線。

3. 結構振幅用表示,結構因素用表示,結構因素=0時沒有衍射我們稱

結構消光或 。對於有序固溶體,原本消光的地方會出現 。

4. 電磁透鏡的像差包括和 。

5. 衍射儀的核心是測角儀圓,它由和共同組成 。

6. x射線測定應力常用儀器有和 ,常用方法有法和法。

7. 運動學理論的兩個基本假設是和

8. 電子探針包括和兩種儀器。

四、 名詞解釋:(10分/每題2分)

1. 形狀因子——

2. 聚焦圓——

3. 景深與焦長——

4. 應變場襯度——

5. 背散射電子——

五、 問答題:(36分/每題9分)

1. x射線學有幾個分支?每個分支的研究物件是什麼?

2. 圖題為某樣品德拜相(示意圖),攝照時未經濾波。巳知1、2為同一晶面衍射線,3、4為另一晶面衍射線.試對此現象作出解釋.

3. 分別說明成像操作與衍射操作時各級透鏡(像平面與物平面)之間的相對位置關係,並畫出光路圖。

4. 電子束和固體樣品作用時會產生哪些訊號?它們各具有什麼特點?

六、 綜合題:(24分/每題12分)

1. 什麼厚度的鎳濾波片可將cukα輻射的強度降低至入射時的70%?如果入射x射線束中kα和kβ強度之比是5:

1,濾波後的強度比是多少?已知μmα=49.03cm2/g,μmβ=290cm2/g,ρni=8.

9g/cm3。

2. 下圖為18cr2n4wa經900℃油淬後在透射電鏡下攝得的選區電子衍射花樣示意圖,衍射花樣中有馬氏體和奧氏體兩套斑點,請對其指數斑點進行標定。(詳細寫出標定步驟和注意事項,不作具體標定)

《材料分析測試技術》試卷

材料分析測試技術 試卷 答案 一 填空題 20分,每空一分 1.x射線管主要由陽極 陰極 和視窗構成。2.x射線透過物質時產生的物理效應有 散射 光電效應 透射x射線 和熱 3.德拜照相法中的底片安裝方法有 正裝 反裝和偏裝三種。4.x射線物相分析方法分 定性分析和定量分析兩種 測鋼中殘餘奧氏體的直...

材料分析測試技術》試卷答案

一 填空題 20分,每空一分 1.x射線管主要由陽極 陰極 和視窗構成。2.x射線透過物質時產生的物理效應有 散射 光電效應 透射x射線 和熱 3.德拜照相法中的底片安裝方法有 正裝 反裝和偏裝三種。4.x射線物相分析方法分 定性分析和定量分析兩種 測鋼中殘餘奧氏體的直接比較法就屬於其中的定量分析方...

材料分析測試技術試卷B

山東科技大學2010 2011學年第二學期 材料分析測試技術 考試試卷 b卷 班級姓名學號 一 選擇題 每空1分,共15分 1 x射線衍射方法中,最常用的是 a 勞厄法 b.粉末多晶法 c.轉晶法 2 已知x射線定性分析中有三種索引,已知物質名稱可以採用 a.哈式無機相數值索引 b.無機相字母索引 ...