第一章1、同種材料經過不同的處理後其效能不變（ ）
2、xrd可以進行樣品表面微觀形貌觀察（ ）
3、x-ray是電磁波，具有粒子性和波動性（ ）
4、在醫學透視上的x-ray波長很長，故又稱為軟x-ray（ ）
5、對於長方形焦點的x-ray管，對這長邊的表觀焦點形狀為線狀，它的強度很強（ ）
6、連續x-ray的強度隨著管壓的增高而增高（ ）
7、連續x-ray譜中，能量最大值在光子能量最大的λ0處（ ）
8、kα線比kβ線的波長長而強度高（ ）
9、每種物質的俄歇電子能量大小只取決於該物質的原子能級結構，是物質的固有特徵（ ）
10、質量吸收係數與物質密度和狀態無關，只與原子序數和x-ray的波長有關（ ）
11、隨x射線管的電壓公升高，λ0和λk都隨之減小（ ）
12、經濾波後的x射線是相對的單色光（ ）
13、選擇濾波片只要根據吸收曲線選擇材料，而不需要考慮厚度（ ）
14、產生特徵x射線的前提是原子內層電子被打出核外，原子處於激發狀態（ ）
15、x射線是單色的（ ）
16、x-ray的波長很短，能量和動量很大，具有很強的穿透能力（ ）
17、連續x-ray譜短波限只與管電壓有關（ ）
18、x-ray管中陽極靶物質的原子序數越大，所需臨界激發電壓值越高（ ）
19、線吸收係數與物質種類、密度、x-ray波長有關（ ）
20、x-ray不反射，幾乎不折射（ ）
21、原子系統中各能級的能量差是不均勻的，越靠近原子核的相鄰能極差越大（ ）
22、光的干涉條件是散射波之間振動方向相同、頻率相同、位相差恆定（ ）
第二章1、空間點陣只有14種，而晶體結構可以有無限種（ ）
2、空間點陣與晶體結構是相同的兩個概念（ ）
3、立方晶系的晶面族包含6個晶面（ ）
4、同一晶帶中所有晶面的法線都與晶帶軸垂直（ ）
5、（100）和（110）同屬於[001]晶帶軸（ ）
6、單色x-ray的衍射只在滿足布拉格定律的若干個特殊角度上產生（ ）
7、x射線衍射線的強度接近於入射線強度（ ）
8、x射線的入射線與反射線的夾角永遠是2θ（ ）
9、x射線的衍射是大量原子參與的一種散射現象（ ）
10、產生x射線衍射現象的必要條件是有乙個可以干涉的波和一組週期排列的散射中心（ ）
11、干涉指數只能是互質的整數（ ）
12、衍射方向決定於晶胞的大小與形狀（ ）
13、干涉晶面與實際晶面的區別在於：干涉晶面是虛擬的，指數間存在公約數n（ ）
14、x射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等於反射角就行（ ）
15、一種布拉菲點陣可以代表許多種晶體結構（ ）
16、晶面間距越大的晶面其指數也越大（ ）
17、粉末法多晶體試樣的形狀可以是任意的（ ）
18、晶面指數的數值是晶面在三個座標軸上的截距（ ）
19、凡是屬於[uvw]晶帶的晶面，其晶面指數（hkl）必須符合hu+kv+lw=0（ ）
20、若已知特徵x-ray的波長和衍射角，則通過布拉格方程可以計算出晶面間距（ ）
21、勞埃法是採用連續x-ray作為入射光源的（ ）
22、粉末法採用的x射線為單色x-ray（ ）
第三章1、衍射方向在x射線波長一定的情況下取決與晶面間距（ ）
2、物質的原子序數越小，非相干散射越弱（ ）
3、在乙個晶面族中，等同晶面越多，參加衍射的概率就越大（ ）
4、x射線衍射線的峰寬可以反映出許多晶體資訊，峰越寬說明晶粒越大（ ）
5、在其他條件一定的情況下，晶粒越小，x射線衍射強度越弱（ ）
6、原子的熱振動可使x射線衍射強度增大（ ）
7、溫度一定時，衍射角越大，溫度因子越小，衍射強度隨之減小（ ）
8、布拉格方程只涉及x射線衍射方向，不能反映衍射強度（ ）
9、衍射角一定時，溫度越高，溫度因子越小，衍射強度隨之減小（ ）
10、原子的熱振動會產生各個方向散射的相干散射（ ）
第四章1、大直徑德拜相機可以提高衍射線解析度，縮短**時間（ ）
2、德拜法比衍射儀法測量衍射強度更精確（ ）
3、在衍射儀法中，衍射幾何包括二個圓。乙個是測角儀圓；另乙個是聚焦圓，x射線管的焦點、計數器接受光闌與試樣三者必須位於其上（ ）
4、粉末照相法所用的粉末試樣顆粒越細越好（ ）
5、德拜相機的底片安裝方式中，正裝法多用於點陣常數的確定（ ）
6、根據不消光晶面的n值比值可以確定晶體結構（ ）
7、為了提高德拜相機的解析度，在條件允許的情況下，應盡量採用波長較長的x-ray源（ ）
8、在分析大晶胞的試樣時，應盡可能選用波長較長的x-ray源，以便抵償由於晶胞過大對解析度的不良影響（ ）
9、選擇小的接受光闌狹縫寬度，可以提高接受解析度，但會降低接受強度（ ）
10、時間常數等於接受光闌的時間寬度的一半或更低時，能夠記錄出分辨能力最佳的強度曲線（ ）
11、德拜相機的底片安裝方式中，反裝法多用於物相分析（ ）
12、衍射角越大，相機的解析度越高（ ）
第五章1、x射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有什麼成分（ ）
2、x射線衍射之所以可以進行物相定性分析，是因為沒有兩種物相的衍射花樣是完全相同的（ ）
3、各相的衍射線條的強度隨著該相在混合物中的相對含量的增加而增強（ ）
4、內標法僅限於粉末試樣（ ）
5、哈氏索引和芬克索引均屬於數值索引（ ）
6、pdf索引中晶面間距數值下腳標的x表示該線條的衍射強度待定（ ）
7、pdf卡片的右上角標有★說明資料可靠性高（ ）
8、多相物質的衍射花樣相互獨立，互不干擾（ ）
9、物相定性分析時的試樣製備，必須將擇優取向減至最小（ ）
第九章1、有效放大倍數與儀器可以達到的放大倍數不同，前者取決於儀器解析度和人眼解析度，後者僅僅是儀器的製造水平（ ）
2、電磁透鏡的景深和焦長隨解析度δr0的數值減小而減小；隨孔徑半形α的減小而增加（ ）
3、光學顯微鏡的解析度取決與照明光源的波長，波長越長，解析度越高（ ）
4、波長越短，顯微鏡的解析度越低，因此可以採用波長較短的γ射線作為照明光源（ ）
5、用小孔徑角成像時可使球差明顯減小（ ）
6、電磁透鏡和光學透鏡均屬於直線匯聚透鏡（ ）
7、限制電磁透鏡解析度的最主要因素是色差（ ）
8、電磁透鏡的景深越大，對聚焦操作越有利（ ）
第十章1、tem的解析度既受衍射效應影響，也受透鏡的像差影響（ ）
2、孔徑半形α是影響解析度的重要因素，tem中的α角越小越好（ ）
3、物鏡的解析度主要決定於極靴的形狀和加工精度（ ）
4、物鏡光闌可以減小像差但不能提高影象的襯度（ ）
5、當電磁偏轉器的上、下偏轉線圈偏轉的角度相等但方向相反時，電子束會進行平行移動（ ）
6、物鏡光闌孔越小，被擋去的電子越多，影象的襯度越大（ ）
7、物鏡光闌能使物鏡孔徑角減小，能減小像差，得到質量較高的影象（ ）
8、物鏡光闌是沒有磁性的（ ）
9、tem中柵極的作用是限制和穩定束流（ ）
10、利用電子顯微鏡進行影象分析時，物鏡和樣品之間的距離是固定不變的（ ）
材料分析測試技術部分試題
三 寫出下列分析測試方法英文縮寫的全稱和中文名稱,1.dsc 2.dta 3.eds 4.epma 5.ir 6.mip 7.sem 8.tem 9.tg 10.wds 11.xrd 三 綜合題 1.用普通矽酸鹽水泥製備高效能混凝土時，常同時摻加高效減水劑和含高活性sio2的摻合料 如矽灰 礦渣粉等...
材料分析測試技術
材料分析測試技術 教材大綱 山東科技大學谷亦傑 第一章材料分析測試技術概述 材料分析測試目的和物理角度論述基本粒子與材料的相互作用 第一節一般原理 第二節衍射分析方法概述 第三節電子顯微分析方法概述 第四節電子能譜分析方法概述 第五節光譜分析方法慨述 第六節色譜 質譜及電化學分析方法概述 第七節其他...
材料分析測試技術試卷
一 選擇題 8分 每題1分 1.當x射線將某物質原子的k層電子打出去後，l層電子回遷k層，多餘能量將另乙個l層電子打出核外，這整個過程將產生 a.光電子 b.二次螢光 c.俄歇電子 d.a c 2.有一體心立方晶體的晶格常數是0.286nm，用鐵靶k k 0.194nm 照射該晶體能產生 衍射線。a...