山東科技大學2010—2011學年第二學期
《材料分析測試技術》考試試卷（b卷）
班級姓名學號
一、選擇題（每空1分，共15分）
1、x射線衍射方法中，最常用的是（ ）
a．勞厄法 b.粉末多晶法 c.轉晶法
2、已知x射線定性分析中有三種索引，已知物質名稱可以採用（ ）
a.哈式無機相數值索引 b.無機相字母索引 c.芬克無機數值索引
3、電子束與固體樣品相互作用產生的物理訊號中能用於測試1nm厚度表層成分分析的訊號是（ ）
a. 背散射電子 b.俄歇電子 c.特徵x射線
4、測定鋼中的奧氏體含量，若採用定量x射線物相分析，常用的方法是（ ）
a.外標法 b.內標法 c.直接比較法 d.k值法
5、下列分析方法中解析度最高的是（ ）
a.sem b.tem c.stm d.afm
6、表面形貌分析的手段包括（ ）
a.xrd和sem b.sem和tem c.wds和xps d.sem和xps
7、當x射線將某物質原子的k層電子打出去後，l層電子回遷k層，多餘能量將另乙個l層電子打出核外，這整個過程將產生（ ）
a.光電子 b.二次螢光 c.俄歇電子 d.a+c
8、透射電鏡的兩種主要功能（ ）
a.表面形貌和晶體結構 b.內部組織和晶體結構
c.表面形貌和成分價鍵 d.內部組織和成分價鍵
9、已知x射線光管是銅靶，應選擇的濾波片材料是（ ）
b.ni c.fe d.zn
10、採用復型技術測得材料表面組織結構的式樣為（ ）
a.非晶體樣品 b.金屬樣品 c.粉末樣品 d.陶瓷樣品
11、在電子探針分析方法中，把x射線譜儀固定在某一波長，使電子束在樣品表面掃瞄得到樣品的形貌相和元素的成分分布像，這種分析方法是（ ）
a.點分析 b.線分析 c.面分析
12、下列分析測試方法中，能夠進行成分-深度分析的測試方法是（ ）
a.wds b.aes c.tem d.afm
13、在x射線光電子能譜中，由於靶材中含有其他雜質或汙染造成在正常光電子主峰一定距離處出現的光電子峰稱為（ ）
a.俄歇峰 b.x射線伴峰 c.鬼峰 d.攜上伴峰
14、熱分析技術不能測試的樣品是（ ）
a.固體 b.液體 c.氣體
15、下列熱分析技術中，（ ）是對樣品池及參比池分別加熱的測試方法
a.dta b.dsc c.tga d.tma
二、填空題（每空1分，共20分）
1、封閉式x射線管實質上是乙個大的真空二極體，基本組成包括 、陽極、聚焦罩
2、標識x譜線的頻率和波長只取決於是物質的固有特性。且標識譜線的波長與原子序數z之間的關係滿足定律。
3、根據布拉格方程，產生衍射的極限條件為
4、透射電鏡主要有和三部分組成。
5、透射電鏡、掃瞄電鏡、俄歇電子能譜儀的英文本母縮寫分別為
6、電子探針分析主要有三種工作方式，分別是線分析分析和
7、高能電子束照射到固體樣品表面時激發的訊號主要等。(至少答四種訊號)
8、x射線衍射束方向反映了晶胞的x射線衍射束的強度反映了晶胞中的原子
三、名詞解釋（每題5分，共20分）
1、x射線的強度
2、背散射電子
3、衍射襯度
4、熱重法
四、簡答題（每題5分，共20分）
1、 連續x射線的波長和強度受管電壓、管電流及陽極靶材質的原子序數的作用，簡述其相互關係的實驗規律。
2、 為什麼說俄歇電子能譜分析是一種表面分析方法且空間解析度高？
3、簡述x射線物相定性分析的原理。
4、簡述掃瞄電鏡的特點。
五、問答題（共25分）
1、論述電子與固體物質作用產生的物理訊號並簡單論述各種物理訊號的特點（任選4種）（10分）
2、論述透射電子顯微鏡的結構（15分）
材料分析測試技術試卷
一 選擇題 8分 每題1分 1.當x射線將某物質原子的k層電子打出去後，l層電子回遷k層，多餘能量將另乙個l層電子打出核外，這整個過程將產生 a.光電子 b.二次螢光 c.俄歇電子 d.a c 2.有一體心立方晶體的晶格常數是0.286nm，用鐵靶k k 0.194nm 照射該晶體能產生 衍射線。a...
《材料分析測試技術》試卷
材料分析測試技術 試卷 答案 一 填空題 20分，每空一分 1.x射線管主要由陽極 陰極 和視窗構成。2.x射線透過物質時產生的物理效應有 散射 光電效應 透射x射線 和熱 3.德拜照相法中的底片安裝方法有 正裝 反裝和偏裝三種。4.x射線物相分析方法分 定性分析和定量分析兩種 測鋼中殘餘奧氏體的直...
材料分析測試技術》試卷答案
一 填空題 20分，每空一分 1.x射線管主要由陽極 陰極 和視窗構成。2.x射線透過物質時產生的物理效應有 散射 光電效應 透射x射線 和熱 3.德拜照相法中的底片安裝方法有 正裝 反裝和偏裝三種。4.x射線物相分析方法分 定性分析和定量分析兩種 測鋼中殘餘奧氏體的直接比較法就屬於其中的定量分析方...