試題B材料現代測試分析方法,材物

2021-03-04 09:36:41 字數 2343 閱讀 8203

所有答案都寫在答題紙上!

一、名詞解釋(共20分,每小題2分。)

1. 彎曲振動

2. 二次離子

3. 系統消光

4. 衍射襯度

5. 復型

6. 物相分析

7. 暗場像

8. 質厚襯度

9. 特徵振動頻率

10. 差示掃瞄量熱法

二、填空題(共20分,每小題2分。)

1. 電磁波譜可分為和( )3個部分。

2. 光譜分析方法是基於電磁輻射與材料相互作用產生的特徵光譜波長與強度進行材料分析的方法。吸收光譜與發射光譜按發生作用的物質微粒不同可分為( )光譜和( )光譜等。

3. x射線等譜域的輻射照射晶體,電子是散射基元。晶體中的電子散射包括( )和( )兩種。

4. 電子束與固體物質(樣品)相互作用可能產生的資訊主要有和( )。

5. 單晶體x射線衍射分析的基本方法為( )和( )。

6. 電子能譜分析法是基於電磁輻射或運動實物粒子照射或轟擊材料產生的電子能譜進行材料分析的方法,最常用的主要有和( )三種。

7. 紅外輻射與物質相互作用產生紅外吸收光譜,必須有分子偶極矩的變化。只有發生偶極矩變化的分子振動,才能引起可觀測到的紅外吸收光譜帶,稱這種分子振動為( ),反之則稱為( )。

8. 電子透鏡有( )和( )兩種型別。

9. 透射電鏡的兩種基本操作是( )和( )。

10. 紫外光電子能譜、原子吸收光譜、波譜儀、差示掃瞄量熱法的英文本母縮寫分別是

三、判斷題,表述對的在括號裡打「√」,錯的打「×」(共10分,每小題1分)

1. 干涉指數表示的晶面並不一定是晶體中的真實原子面,即干涉指數表示的晶面上不一定有原子分布。( )

2. 倒易向量r*hkl的基本性質為:r*hkl垂直於正點陣中相應的(hkl)晶面,其長度r*hkl等於(hkl)之晶面間距dhkl的倒數。( )

3. 二次電子像的解析度比背散射電子像的解析度高。( )

4. 一束x射線照射乙個原子列(一維晶體),只有鏡面反射方向上才有可能產生衍射。( )

5. 低能電子衍射(leed)適合於分析所有固體樣品的表面結構。( )

6. 俄歇電子能譜適合於分析所有固體樣品的表面化學成分。( )

7. x射線光電子能譜可用於固體表面元素的定性、定量和化學狀態分析。( )

8. d-d躍遷和f-f躍遷受配位體場強度大小的影響都很大。( )

9. 分子的振-轉光譜是連續光譜。( )

10. 無論測試條件如何,同一樣品的差熱分析曲線都應是相同的。( )

四、單項選擇題(共10分,每小題1分。)

1. 電子光譜是( )。

a、 線狀光譜 b、帶狀光譜 c、連續光譜

2. 下列方法中,( )可用於測定ag的點陣常數。

a、 x射線衍射線分析 b、紅外光譜 c、原子吸收光譜 d 紫外光譜子能譜

3. 某薄膜(樣品)中極小瀰散顆粒(直徑遠小於1m)的物相鑑定,可以選擇( )。

a、x射線衍射線分析 b、紫外可見吸收光譜 c、差熱分析 d、多功能透射電鏡

4. 幾種高聚物組成之混合物的定性分析與定量分析,可以選擇( )。

a、紅外光譜 b、俄歇電子能譜 c、掃瞄電鏡 d、掃瞄隧道顯微鏡

5. 下列( )晶面屬於[110]晶帶。

a、(110) b、(011) c、(101) d、()

6. 某半導體的表面能帶結構測定,可以選擇( )。

a、 紅外光譜 b、透射電鏡 c、x射線衍射 d 紫外光電子能譜

7. 要分析鐵中碳化物成分和基體中碳含量,一般應選用( )。

a、波譜儀型電子探針儀 b、能譜儀型電子探針儀 c、原子發射光譜 d、原子吸收光譜

8. 要測定聚合物的熔點,可以選擇( )。

a、紅外光譜 b、掃瞄電鏡 c、差熱分析 d、x射線衍射

9. 下列分析方法中,( )不能分析固體表面元素的含量。

a、俄歇電子能譜 b、x射線光電子能譜 c、紫外光電子能譜

10. 要鑑定某混合物中的硫酸鹽礦物,優先選擇( )。

a、原子吸收光譜 b、原子螢光光譜 c、紅外光譜 d、透射電鏡

五、簡答題(共40分,每小題8分)

1. x射線照射固體物質時可能產生哪些資訊?據此建立了哪些分析方法?

2. 從原理及應用方面指出x射線衍射、透射電透中的電子衍射在材料結構分析中的異同點(8分)

3. 簡述波譜儀和能譜儀在進行微區化學成分分析時的優缺點(8分)

4. 簡述有機、無機化合物電子光譜的主要型別(8分)

5. 簡述差熱分析中放熱峰和吸熱峰產生的原因。(8分)

西南科技大學材料現代測試分析方法,材物

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