成品外觀檢驗規範

2022-11-23 01:09:08 字數 3420 閱讀 3530

1. 目的

訂定成品檢驗及允收標準,使成品出貨品質能夠符合客戶規格之需求。

2. 適用範圍

品管部最終檢驗。

3. 權責

檢驗人員依此規範檢驗,記錄於品質記錄表並負責維護本作業規範。

4. 內容

以下檢驗專案均需使用3倍放大鏡。

4.1標記

4.1.1 涵蓋範圍包括週期,測試章,志超標記。

4.1.2標記應依客戶圖面或規範之規定,置於工作底片上指定位置,若客戶無明確規定,則依工作底片設計於適當位置。

4.1.3蓋印標記需清晰易辨識。

4.1.4蓋印墨水需具抗化學性,非導電性及耐抗噴錫過程與清洗作業。

4.1.5蓋印墨不得蓋於已焊錫位置上。

4.1.6若因重工導致有測試章及無測試章發生混料,一律重測; auo料號折斷邊上需加蓋一測試章,fqc人員檢驗完後需將q章蓋於測試章旁,防止未測試板流出。

4.1.7測試章汙染經fqc人員發現後挑出,交由測試人員重工,完成後再給fqc人員重新檢驗續流程。

4.1.8 針對v-cut板,成型全檢在v-cut處畫線(黑色),測試設立測試線,包裝人員總疊全檢在另一邊v-cut處畫線(紅色)

4.1.9 538系列的料號不允許修補(含補金和補漆),需用**i及板彎翹檢查機100%檢驗。

4.2文字

4.2.1 文字油墨顏色依客戶指定或設計工程單位規定。

4.2.2 文字字型或圖樣需清晰且易辨識。

4.2.3文字油墨因印刷過程偏移,則容許沾染大錫墊,但不可沾染金手指和零件孔內

4.3基板表面

4.3.1基板脫層在十倍放大鏡下,不允許膠片與膠片間或是銅層與膠片間有脫層起泡。

4.3.2粉紅圈及白邊現象在十倍放大鏡下,不允許有脫層現象。

4.3.3基板表面異物,不允許有目視可觀察到不透明異物或導電性雜質。

4.4線徑

4.4.1線徑的標準以客戶所提供的原稿底片為參考依據,來決定最大和最小的允收條件。

4.4.2線路缺口不允許超過原稿底片±20%。

4.4.3線路上有針孔,凹陷或不規則形狀時,不允許超過原稿底片±20%。

4.4.4使用工具為50倍目鏡。

4.5線路間距

4.5.1依客戶所提供的原稿底片,規定最小間距的需求,無規定者依設計工程為主。

4.5.2存**路間距中的金屬殘渣,不允許超過原稿底片±20%。

4.5.3使用工具為50倍目鏡。

4.6錫墊平環

4.6.1錫墊平環凹洞或變形不允許超過總面積的30%。

4.6.2錫墊平環殘缺部份扔須維持最小錫墊2mil之規定。

4.6.3導通孔平環殘缺部份扔須維持最小錫墊1mil之規定。

4.6.4零件孔平環殘缺部份扔須維持最小錫墊2mil之規定。

4.7 錫墊和客戶測試用的錫墊點

4.7.1噴錫需平整。

4.7.2錫墊不允許殘缺。

4.7.3錫墊不允許沾染綠漆。

4.8孔

4.8.1非電鍍孔不允許任何金屬殘留影響到孔徑。

4.8.2非電鍍孔孔壁不允許任何損傷變形。

4.8.3非電鍍孔孔位與孔徑以工程圖面規定驗收。

4.8.4電鍍孔之孔徑大小及允收標準以客戶規格或工程圖面規定驗收。

4.8.5電鍍孔之孔壁空洞不允許超過3個,且空洞的總面積不允許超過整個孔壁面積的10%。

4.8.6導通孔允許孔內塞錫,但不得凸出超過錫墊平面。

4.8.7導通孔如需塞孔,則塞孔率不得少於95%,且不得凸起。

4.8.8孔壁內不得呈現氧化或異色現象。

4.8.9如有影響到孔徑則使用pin gauge量測是否符合規格。

4.9金手指及化金

4.9.1金手指重要區域不允許有露銅,露鎳,露底材,沾漆等缺點。

4.9.2膠帶剝離試驗不允許金或鎳有剝離現象。

the juan straches ma 愯緭4.9.3金手指的斜邊可露銅,但不允許有銅絲脫尾的現象。

the qi 冭繘 xian 侀? 鑰 ?4.9.4金手指表面不允許有異色汙染現象。

the 鎴愭湰鎺у埗4.9.5 npth孔內不允許孔壁沾金之現象。

the lu х墿鐘 duo 喌鏌ヨ

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4.11防焊

4.11.1零件孔環錫墊與防焊層最少需維持3mil寬度以利焊接。

4.11.2不允許因防焊下銅箔氧化而導致防焊異色,或浮離現象。

4.11.3零件孔內不允許有沾染綠漆和異物殘留。

4.11.4線路防焊側露或點狀裸露(限指定料號實施)。

4.11.4.1線路防焊側露時,到防焊遮蓋良好的鄰線之間須遠離25mil。

4.11.4.2線路點狀裸露時,到鄰近錫墊或點狀裸露的線路之間須遠離25mil。

4.12成型

4.12.1板邊應平整,同時依原始工程圖或設計工程單位規定作業。

4.12.2板邊入刀處,不容許有擠壓傷痕及"入" 或 "出"交接點上有明顯凹痕。

4.12.3槽溝不容許有成型板屑殘留或堆積,不可有漏撈或撈壞現象(見附件圖示)。

4.12.4板角或板邊碰撞傷,依ipc–a–600d規定判定。

4.12.5板扭及板彎之公差如下。

4.14.6使用工具為游標卡尺。

4.13 v-cut

4.13.1 v-cut深度標準為v-cut後留下為板厚的1/3。

4.13.2使用工具為游標卡尺。

4.14修補

4.14.1補鍍金處不可超過5處,超過之板子必須報廢。

4.14.2補鍍金及油墨修補處用3m膠帶測試金面是否會脫落。

4.15防焊修補

4.15.1防焊修補每面最多允許補3處,修補處直徑最大允許15mm。

4.15.2修補墨需用與pcb相同防焊修補及烘烤以保護線路。

4.16目視檢驗缺點如附件。

※※ 未載入以上分類內容中之缺點,則以客戶規範為準。

4.17有關entek之料號須先行目視,再經oqc抽驗便可做entek,完畢後再經oqc再次抽驗始可包裝,抽樣標準: mil-std-105e level ⅱ 允收標準0.

4 抽驗不合格需由fqc100%重檢外觀。

4.18目視檢驗完成後,須將單片報廢板與ok板作上個人標示分開送oqc抽驗,並作其相關之記錄。

4.19 fqc若發現不良率超過3.6%或同一問題平均不良率超過1%、固定問題超過25片,填寫《fqc品質異常處理管制表》,並反饋責任制程和品管,在品質周會上要求相關單位提出改善報告。

5. 參考檔案

5.1 出貨檢驗作業規範(gt-3310-3-016)

6. 使用表單

6.1成品檢驗品質**表(310-3-004-a3-表單1)

6.2成品檢驗品質記錄(總)表(310-3-004-a3-表單2)

6.3引用fqc品質異常處理管制表(310-3-014-a0-表單2)

7. 使用附件

附件一目視檢驗缺點

附件二新缺點明細表

成型漏撈實物**

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