第一章1表面形貌和內部組織形貌：
①材料的外觀形貌（如奈米線、斷口、裂紋等）：掃瞄電子顯微鏡(sem)；
②晶粒大小與形態：x射線衍射(xrd)；
③相的尺寸與形態、含量與分布、介面（表面、相界、晶界）：光學顯微鏡；
④位向關係（新相與母相、孿生相）：x射線衍射(xrd)；
⑤晶體缺陷（點缺陷、位錯、層錯）、夾雜物、內應力：高解析度電子顯微鏡（hrtem）。
2晶體的相結構。各種相的結構，即晶體結構型別和晶體常數，和相組成：x射線衍射(xrd)
3化學成分,包括巨集觀和微區化學成份（不同相的成份、基體與析出相的成份）：能譜儀（eds）和波譜儀（wds）
4價鍵（電子）結構,同種元素的不同價鍵型別和化學環境：x射線光電子能譜(xps)和俄歇電子能譜(aes)。
5有機物的分子結構和官能團：紅外光譜（ir）、拉曼光譜（raman）、 螢光光譜（pl）、核磁共振（nmr）
第二章散射
原子對電子的散射還可以進一步分為彈性散射和非彈性散射。
在彈性散射中，電子只改變運動方向，基本上無能量變化。在非彈性散射中，電子不但改變方向，能量也有下同程度的衰減，衰減部分轉變為熱、光、x射線、二次電子等。
1二次電子
當入射電子與原子核外電子發生相互作用時，會使原子失掉電子而變成離子，這種現象稱為電離，而這個脫離原子的電予稱為二次電子。
特點：（1）對樣品表面形貌敏感
（2）空間解析度高
（3）訊號收集效率高
應用：用於掃瞄電鏡的成像原理
2俄歇電子
如果原子內層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量e不以x射線的形式釋放，而是用該能量將核外另一電子打出，脫離原子變為二次電子，這種二次電子叫做俄歇電子。
（l）特點：
. ①適於分析輕元素及超輕元素；
②適於表面薄層分析
（2）應用 ：俄歇電子訊號適用於表層化學成分分析。
第三章 x射線物理基礎
一 x射線
1 x射線具有波粒二相性：
2 x射線譜
x射線強度與波長的關係曲線，稱之x射線譜。
①連續x射線譜
在管壓很低時，小於20kv的曲線是連續變化的，故稱之連續x射線譜，即連續譜。
與之有關：
②特徵x射線譜
當管電壓超過某臨界值時，特徵譜才會出現，該臨界電壓稱激發電壓。當管電壓增加時，連續譜和特徵譜強度都增加，而特徵譜對應的波長保持不變。
與之有關：與陽極靶原子序數有關
x射線產生機理：
4 小結
二莫塞萊定律
莫塞萊定律是x射線光譜分析的基本依據
三 x射線散射
1 由於散射線與入射線的波長和頻率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干條件，故稱為相干散射。
相干散射是x射線在晶體中產生衍射現象的基礎。
2 x射線經束縛力不大的電子（如輕原子中的電子）或自由電子散射後，可以得到波長比入射x射線長的x射線，且波長隨散射方向不同而改變。這種散射現象稱為康普頓散射或康普頓一吳有訓散射,也稱之為不相干散射。
因散射線分布於各個方向，波長各不相等，不能產生干涉現象。
3 小結
四光電效應小結
五散射和吸收小結
六衰減規律
實驗證明，x射線透過物質時引起的強度衰減與所通過的距離成正比
七應用1 獲得單色光
2 kα輻射
八濾波片的選擇規則
1： z靶＜40時，z濾＝z靶-1；
2： z靶＞40時，z濾＝z靶-2
第四章 x射線衍射
一倒易點陣
1晶體中的原子在三維空間週期性排列，這種點陣稱為正點陣或真點陣。
2以長度倒數為量綱與正點陣按一定法則對應的虛擬點陣------稱倒易點陣
二布拉格方程應用
1 一方面是用已知波長的x射線去照射晶體，通過衍射角的測量求得晶體中各晶面的面間距d，這就是結構分析------ x射線衍射學；
2 另一方面是用一種已知面間距的晶體來反射從試樣發射出來的x射線，通過衍射角的測量求得x射線的波長，這就是x射線光譜學。
該法除可進行光譜結構的研究外，從x射線的波長還可確定試樣的組成元素。電子探針就是按這原理設計的。
三布拉格定律的討論
從看出，波長選定之後，衍射線束的方向（用表示）是晶面間距d的函式。如將立方、正方、斜方晶系的面間距公式代入布拉格公式，並進行平方後得：
立方系正方系：
斜方系：
波長選定後，不同晶系或同一晶系而晶胞大小不同的晶體，其衍射線束的方向不相同。因此，研究衍射線束的方向，可以確定晶胞的形狀大小。
四x射線的強度
x射線衍射理論能將晶體結構與衍射花樣有機地聯絡起來，它包括衍射線束的方向、強度和形狀。
1衍射線束的方向由晶胞的形狀大小決定
2衍射線束的強度由晶胞中原子的位置和種類決定，
3衍射線束的形狀大小與晶體的形狀大小相關。
五產生衍射的條件
1布拉格公式2dsinθ=nλ
為使物理意義更清楚， 現考慮n＝1（即1級反射）的情況，用波長為λ的x射線照射晶體時，晶體中只有面間距d>λ/2的晶面才可能產生衍射。
2衍射產生的必要條件：「選擇反射」——反射定律+布拉格方程
即滿足此條件是有可能產生衍射
不滿足此條件則不可能產生衍射
3三種晶體可能出現衍射的晶面
①簡單點陣:什麼晶面都能產生衍射
②體心點陣:指數和為偶數的晶面
③麵心點陣:指數為全奇或全偶的晶面
由上可見滿足布拉格方程只是必要條件,衍射強度不為0是充分條件,即f不為0
六x射線分析方法
勞埃法 、 周轉晶體法、 粉末多晶法
七結構振幅的計算（同書上p77~78 例1、2、3、）
1、簡單點陣
單胞中只有乙個原子，基座標為（0，0，0），原子散射因數為f，根據式（2-20）：
該種點陣其結構因數與hkl無關，即hkl為任意整數時均能產生衍射，例如（100）、（110）、（111）、（200）、（210）…。能夠出現的衍射面指數平方和之比是
2、體心點陣
單胞中有兩種位置的原子，即頂角原子，其座標為（0， 0， 0）及體心原子，其座標為 (1/2,1/2,1/2)
1 當h+k+l=奇數時，
即該晶面的散射強度為零，這些晶面的衍射線不可能出現，例如（100）、（111）、（210）、（300）、（311）等。
2 當h+k+l=偶數時，
即體心點陣只有指數之和為偶數的晶面可產生衍射，例如（110）、（200）、（211）、（220）、（310）…。這些晶面的指數平方和之比是（12+12）：22：
（22+12+12）：（32+12）…=2：4：
6：8：10…。
3、麵心點陣
單胞中有四種位置的原子，它們的座標分別是（0，0，0）、 （0,1/2,1/2）、（1/2,0,1/2)、（1/2,1/2,0）
1 當h、k、l全為奇數或全為偶數時
2 當h、k、l為奇數混雜時（2個奇數1個偶數或2個偶數1個奇數）
即麵心立方點陣只有指數為全奇或全偶的晶面才能產生衍射，例如（111）、（200）、（220）（311）、（222）、（400）…。能夠出現的衍射線，其指數平方和之比是：3：
4：8：11；12：
16…=1；1.33：2.
67：3.67：
4：5.33…
第五章 x射線衍射方法
勞埃法 、 周轉晶體法、 粉末多晶法
一德拜照相法
1正裝法：底片中心開一圓孔，底片兩端中心開半圓孔。
底片安裝時光欄穿過兩個半圓孔和成的圓孔，承光管穿過
中心圓孔
作用：用於物相分析
2反裝法：底片開孔位置同上，但底片安裝時光欄穿過中心孔
作用：測定點陣常數
3偏裝法：底片上開兩個圓孔，間距仍然是πr。當底片圍
成圓時，接頭位於射線束的垂線上。底片安裝時光
欄穿過乙個圓孔，承光管穿過另乙個圓孔。
作用：校正由於底片收縮及相機半徑不準確等因素產生測量誤差，適用於測定點陣常數的精確測定等工作。
二探測器與記錄系統
x射線衍射儀可用的輻射探測器有si（li）半導體探測器
三衍射圖譜
第六章 x射線衍射分析的應用
一點陣常數的測定
x射線測定點陣常數是一種間接方法，它直接測量的是某一衍射線條對應的θ角，然後通過晶面間距公式、布拉格公式計算出點陣常數。
二 x射線物相分析
1 x射線物相定性分析
原理：對於晶體物質中來說，各種物質都有自己特定的結構引數（點陣型別、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數目、位置等），結構引數不同則x射線衍射花樣也就各不相同，所以通過比較x射線衍射花樣可區分出不同的物質。
2 x射線物相定量分析
①原理：根據x射線衍射強度公式，某一物相的相對含量的增加，其衍射線的強度亦隨之增加，所以通過衍射線強度的數值可以確定對應物相的相對含量。
x射線物相定量分析常常是用衍射儀法進行分析。
②定量分析方法：
外標法：將待測樣品中j相的某一衍射線條的強度與純物質j相的相同衍射線條強度進行直接比較，即可求出待測樣品中j相的相對含量。
內標法：若混合物中含有n個相，各相的μm不相等，此時可往試樣中加入標準物質，這種方法稱為內標法，也稱摻和法。
案例分析重點內容
按照 企業職工 事故分類標準 指出主要的危險因素及生產部位。1，機械傷害2，觸電3，物體打擊4，起重傷害5，火災6，中毒和窒息7，車輛傷害8，其他 防範措施 主要事故包括觸電 火災 其他 中毒和窒息等。主要防範措施 加強電器檢修，預防漏電，保證接地良好 控制火源，禁止出現明火 電氣裝置電路破損老化漏...
分析方法重點答案
參 一題答案 1 什麼是特徵x射線？p43 當管壓增至與陽極靶材對應的特定值uk時，在連續譜的某些特定波長位置上出現一系列陡峭的尖峰。該尖峰對應的波長 與靶材的原子序數z存在著嚴格的對應關係，尖峰可作為靶材的標誌或特徵，故稱尖峰為特徵峰或特徵譜。2 什麼是電子探針的點分析 線分析 面分析？p245 ...
材料分析方法
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