場均勻性測試(fu) （翻譯至： iec 61000-4-3）
6.2場地校準
場地校準的目的是確保在被測樣品上產生的場的均勻性，以便能保證測試結果的有效性。為了保證場強探頭的讀數準確，在場地校準時，發射訊號不進行任何調製。
iec 61000-4-3 定義了「均勻面」的概念，該面是乙個被認為場的變化足夠小的假想的垂直面。除非eut及其線束內在乙個較小的區域內被充分的照射，通常的均勻面的尺寸為1.5m×1.
5m。均勻面的最小尺寸不能小於0.5m×0.
5m（僅乙個4點的視窗）。
在測試布置中，應把eut被照射的面和該均勻面重合起來。（如圖）
立式裝置的測試
台式裝置的測試
由於在參考地平面附近不可能建立乙個均勻場，所以，被校面的高度不能低於0.8公尺。如果有可能，以後測試時，eut也盡可能處於這個高度。
有一些eut及其線束在測試時必須要靠近參考地平面或者超出1.5m×1.5m的範圍，那測試高度也可定在0.4m，但關於eut的所有的尺寸資料應當包含的報告中加以說明。
均勻面的校準要在乙個空暗室中進行，其中僅保留測試相關的東西（天線，探頭，額外的吸波材料等等）。均勻面校準應當每年進行一次或是在暗室內配置改變時（吸波材料的更換、移動，裝置改變等）立刻進行。
發射天線應放置在乙個合適的距離上，以便發射場的主瓣頻寬能夠覆蓋1.5m×1.5m的校準面。
如果均勻面想要覆蓋乙個尺寸大於1.5m×1.5m的eut受測面，那麼，容納eut受測面的均勻面要進行一系列的照射和測試（部分照射法）。
即：1． 發射天線處於不同的位置，進行均勻面的校準，這樣，拼合起來的校準面能夠容納eut受測面。
2． 或者，將eut放在不同的位置，這樣，其上的每個部分都能被校準面覆蓋。
如果乙個容納大於1.5m×1.5meut受測面的校準面滿足場均勻性測試的要求，則可以不進行部分照射法。
場強探頭同發射天線的距離至少為1公尺。最好是3公尺，這是天線和eut之間的距離。這個距離是以雙錐天線的中心或週期天線的標記處為準量得的。這些要在報告中給予說明。
在出現爭議時，3公尺法校準為優先考慮的。
若校準麵中的大部分點（75％以上）的歸一化值在（－0～＋6db）內時，該面上的場被認為是均勻。如果校準面尺寸為0.5m×0.5m，則全部點都應滿足要求。
允許有3％的頻率的歸一值落入＋6db～＋10db的容限範圍內，但不能低於－0db，但要在報告中註明。若存在爭議時，－0～＋6db範圍優先。
通常，對全電波暗室或半電波暗室的場校準的布置如下圖：
場校準一般在水平和垂直極化方式下用給定的頻率步進的無調製載波進行測試。場校準時所用的場強至少為測試時用在eut上的場強的1.8倍，且要保證放大器工作於線性區。
將這個校準場強記做ec。這個值僅用於場的校準，測試用場強則不能超過ec/1.8。
以下介紹了兩種不同的場校準方法。如果使用正確，這兩種方法能給出相同的場均勻性結果。
如果eut所有的面（包含一些線束）都能包含在「測試域」中，則認為場校準是有效的。
用於場地校準的天線和電纜可用於以後的對eut的測試。也正因為使用了相同的天線和電纜，電纜的損耗和發射天線的天線係數在測試中可以不必考慮。
校準時，應記錄好天線，電纜及相關裝置的位置，因為場地中極小的改動都會對場造成很大的影響，在以後的測試中要使用和校準時相同的位置。
6.2.1 恆定場強校準法
通過調整前向功率，建立乙個場強恆定的均勻場，用乙個經校準的場強探頭已指定的步長在每個頻段內進行測量，乙個位置接乙個位置的測，一共16個位置。
16個位置的前向功率的測量以dbm為單位。
以下為校準步驟：
1． 將場探頭置於16個測試位置中的乙個，並將訊號發生器的頻率設為校準要求中的最低頻率（比如：80mhz）。
2． 調整饋入發射天線的前向功率（即調整功放的增益），使場強達到校準要求的ec。記錄此時的前向功率值。
3． 以最大為前頻率的1％為步進，增加頻率。
4． 重複2、3步，直到該頻段的最大頻率點。（使每個頻點的場強都一樣）
5． 在每個測試位置重複1～4步，直到測完16個位置。
測完之後，在每個頻點：
6． 將16個前向功率值作公升序排列。
7． 從最大值開始，檢查是否至少有11個低於該值的數和該最大值的差在容限－6db～+0db內。
8． 若不在上述容限內，照上述步驟重測該頻點，注意到，每個頻點有5個可重測的位置（5個重測完後，仍不達標，校準失敗）
9． 不含最大值，如果至少12個值在6db容限內，則校準完成
6.2.2 恆定功率校準法
通過調整前向功率，建立乙個場強恆定的均勻場，用乙個經校準的場強探頭已指定的步長在每個頻段內進行測量，乙個位置接乙個位置的測，一共16個位置。
在16個位置應用相同的前向功率，由此在每乙個位置記錄產生的場強。
以下為校準步驟：
1． 將場探頭置於16個測試位置中的乙個，並將訊號發生器的頻率設為校準要求中的最低頻率（比如：80mhz）。
2． 調整饋入發射天線的前向功率（即調整功放的增益），使場強達到校準要求的ec。記錄此時的前向功率值和場強值。
3． 以最大為前頻率的1％為步進，增加頻率。
4． 重複2、3步，直到該頻段的最大頻率點。（使每個頻點的場強都一樣）
5． 應用2步中每個頻點記錄的前向功率值（保持功率值不變），在每個位置重複1～4步，記錄場強值，直到測完所有的16個位置。
測完之後，在每個頻點：
6． 將16個場強值作公升序排列
7． 選乙個場強值為參考值，在db單位下計算其它值同參考值的差值。
8．從最小值開始，檢查是否至少有11個高於該值的數和該最小值的差在容限－－0db～+6db內。
9 若不在上述容限內，照上述步驟重測該頻點，注意到，每個頻點有5個可重測的位置（5個重測完後，仍不達標，校準失敗）
10． 不含最大值，如果至少12個值在6db容限內，則校準完成。
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