1.0 目的
提供spc的使用準則及步驟,並說明使用方法,以便在運用管制圖時能夠正確地決定、檢討管制界限與進行管制圖的判讀。
2.0 範圍
x-r管制圖、p管制圖、cpk(製程能力指數)的運用管理。
3.0 定義
3.1 計量值特性
凡產品的品質特性以實際量測方式取得的特性稱為計量特性,例如重長等。
3.2 計數值特性
凡產品的品質特性不連續,不易或不能以實際量測方式取得,只能間斷取值的
特性,例如不合格數、不良品率等。
4.0 相關檔案
5.0 職責
5.1 相關部門:spc的運用與維持。
5.2 工程部:spc的使用的規劃。
6.0 程式
6.1 管制圖使用規劃及選擇原則
6.1.1 使用規劃由qa及工程部根據各製造工序影響因素及質量影響因素,結合成本及效益,全面規劃需採取管制圖控制的工序和產品特性。
6.1.2 選擇原則
6.1.2.1 計量值特性選用x-r管制圖。
6.1.2.2 計數值特性選用p管制圖。
6.2 管制圖繪製、使用步驟
6.2.1 首次使用管制圖的作業程式
6.2.1.1 決定須管制的特性。
6.2.1.2 蒐集25組資料。
6.2.1.3 計算中心線(平均值)及管制上、下限。
6.2.1.4 繪製管制圖。
6.2.1.5 檢查是否有超出管制界限的點。
6.2.1.6 將這些超出管制界限的資料剔除並重新計算中心線(平均值)及管
製上、下限。
6.2.1.7 決定管制圖的中心線(平均值)及管制上、下限。
6.2.2 現場使用管制圖的作業程式
6.2.2.1 在新的管制圖紙劃出管制圖的中心線(平均值)及管制上、下限。
6.2.2.2 依規定的抽樣頻率及抽樣數,並將所得資料記錄於管制圖上,且依所使用的管制圖種類進行計算。
6.2.2.3 將計算結果描點於管制圖上。
6.2.2.4 管制圖判讀及異常管制圖矯正/預防措施
6.2.2.5 檢討管制界限
6.2.2.5.1當完成一張管制圖時,根據管制圖圖紙上的資料重新計算中心線 (平均值)及管制上、下限。計算時須剔除超出管制界的資料。
6.2.2.5.2 比較計算前後之中心線(平均值)及管制上、下限。
6.2.2.5.3 若無重大差異時在新的管制圖紙延用計算前的管心線(平均值)
6.2.2.5.4 若有明顯的差異時,可在新的管制圖紙使用計算後的管制中心線(平均值)及管制上、下限。
6.3 管制圖判讀原則及異常管制圖的矯正/預防措施
6.3.1 正常之管制圖其各點的動態為:
6.3.1.1 多數的點集中在中心線附近。
6.3.1.2 少數的點落在管制界限附近(但未超出管制界限)。
6.3.1.3 各點的分布呈隨機狀態,無任何規則可循。
6.3.2 異常管制圖的判讀
6.3.2.1 任何超出控制限的點
6.3.2.2 連續7個點在中心線之上或之下
6.3.2.3 連續7個點上公升或下降
6.3.2.4 任何其它明顯的非隨機圖形,如2/3的描點應落在控制限1/3的中間區域,描點成規則形狀。
6.3.3 異常之管制圖的矯正/預防措施
6.3.3.1 出現任何超出控制界限的點,都應提請相關單位進行原因分析,並採取矯正措施。
6.3.3.2 對於連續7個點在中心線之上或之下,或連續7個點上公升或下降,或其它明顯非隨機圖形,都應提請相關部門分析原因,留意趨勢採取相應預防措施。
6.3.3.3 如相關責任部門無視不良現象的存在或長期行動無效果, 必要時發出《矯正/預防措施要求書》要求其改善。
6.4 x-r管制圖的使用方法
x-r管制圖是以管制平均值(x管制圖)與全距(r管制圖)的方式達到管
制的目的。
6.4.1 決定樣本數
6.4.1.1 使用x-r管制圖的樣本數(n)以2 ~ 5個為適當,但不要超過
10個為宜。
6.4.1.2 樣本數一經決定後必須在使用時固定不變。
6.4.2 平均值與全距的計算
6.4.2.1 平均值(x)= 各組內資料的和÷樣本數。
6.4.2.2 全距(r)= 各組內的最大值-最小值。
6.4.3 x 管制圖與r管制圖之中心線與管制上、下限的計算公式。
6.4.3.1 x 管制圖之中心線與管制上、下限的計算公式:
6.4.3.2 r 管制圖之中心線與管制上、下限的計算公式:
6.4.3.3 x-r管制圖的係數表
6.5 p 管制圖的使用方法
p 管制圖是以管制不良率的方式達到管制的目的。
6.5.1 決定樣本數
6.5.1.1 使用p管制圖的樣本數(n)以能夠發現1-5個不良品最為適
當,樣本數的決定公式為:
6.5.1.2 若未決定樣本數,導致管制下限小於0,則下限取0。
6.5.2 管制圖的管制界限必須依管制上、下限公式計算,若樣本改變時,以實際樣本數代入。
6.5.3 p 管制圖之中心線及管制上、下限的計算公式
6.6 製程能力指數 cpk 使用規劃
6.6.1 工程部根據各製造過程或工序影響以及質量特性,全面規劃需進
行製程能力控制的製程或工序並明確相應的cpk值。
6.6.2 製程能力指數
6.6.1.1 使用製程能力指數時,應依統計學的原則,同時衡量製程中的集中(平均)與分數(變異)狀況,以確實掌握製程品質特性。
6.6.1.2 cpk值、cpk等級、不合格率及相應措施關係列表如下。
6.6.3 製程能力指數運用的前提
6.6.3.1 所使用的規格上下限依內部或客戶要求。
6.6.3.2 如客戶另有特定製程指數值要求時,另和客戶協商。
6.6.3.3 指數計算的結果可能因抽樣誤差而有所差異,使用時掌握其等級,並採取適當措施即可。
6.6.4 製程能力指數的計算
6.6.4.1 符號說明
usl:表示規格上限。
lsl:表示規格下限。
x :表示所蒐集或抽樣資料的平均。
表示自所蒐集或抽樣資料中所推算(估計)的標準差。
6.6.4.2 製程能力指數計算公式
cpk:相對於規格同時表示製程集中與變異的指數。
6.6.4.3 標準差計算公式
r/d2
r 是子組極差的平均值,d2 是隨樣本容量變化的常數
6.6.5 製程能力指數異常的處理當製程能力指數低於客戶要求時,責任部門應採取措施以改善,必要時應以《矯正/預防措施要求書》的形式提出改善
7.附件
7.1 x-r管制圖圖紙樣式
7.2 p管制圖圖紙樣式
8. 流程圖
略附件一
x-r 管制圖
部門管制圖編號:附件二
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spc好多年前就開始說這個名詞了,但說使用除了外審的時候向審核老師提供檢查外,目前公司還沒有真的運用起來。外審提供給審核老師的資料就是一兩個人做的,大家平時接觸spc的機會確實不多。但並不是說spc就真的沒用,作為ts16949的五大工具之一,世界上各國家的各種企業都在使用。只能說目前公司可能還沒達...
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