14. 掃瞄電鏡的兩種常用成像訊號中，既反映表面形貌襯度又反映原子序數襯度的是
15. 波譜儀是
能譜儀是
16. x射線光電子能譜分析中，導電固體樣品產生光電效應時的光電方程表示式為
17. 掃瞄隧道顯微鏡的成像訊號為而原子力顯微鏡是通過檢測針尖—樣品間的來成像的。
三、問答題（共35分）
1. (8分)（1）推導布拉格方程；（2）為什麼說衍射方向反映了晶胞的形狀和大小。
2. (9分)x射線衍射線的強度公式為，
(1)說明五個影響因子的名稱及含義。
(2)對立方系晶體,p200為多少?若為正方系晶體,p200為多少?並寫出所包含的晶面指數。
3. (6分)為什麼透射電鏡既可做電子衍射又可觀察電子衍襯像？
4. (5分)對於理想晶體，其薄膜樣品的楔形邊緣處的衍襯像有何特徵？並用運動學理**式加以解釋。
5. (7分) (1)下圖的斷口形貌**包含了哪些微觀斷口形貌？(2)簡述二次電子像的成像原理。
四、應用題（共26分）
1. （14分）殘餘奧氏體的電子衍射花樣如圖，已知，，r1和r2之間的夾角為70，lλ=2.05mmnm，
(1) 標定斑點指數;
(2) 計算晶帶軸指數[uvw]；
(3) 驗證該物相。已知-fe的點陣常數為。
2. （共12分，每小題2分）下列分析內容優先選用何種儀器進行分析?何種分析方法？並簡單說明對試樣的要求。
(1) 表面滲層、鍍層的物相鑑定；
(2) 淬火鋼中孿晶馬氏體與位錯馬氏體的形貌觀察；
(3) 碳鋼脫碳層碳濃度分布；
(4) 金屬表面約2nm深的汙染物成分分析；
(5) 金屬斷口形貌及其斷口上粒狀夾雜物的化學成分；
(6) 超細粉末形狀、大小及結構測定。
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