1 x射線衍射分析
原理：x射線照射晶體，晶體中電子受迫振動產生相干散射，同一原子內各電子散射波相互干涉形成原子散射波，各原子散射波相互干涉，在某些方向上一致加強，即形成了晶體的衍射波。通過衍射方向和衍射強度的分析可以實現材料的結構分析。
衍射方向以衍射角2θ表達，其值與產生衍射晶面的晶面間距dhkl及入射線波長的關係滿足布拉格方程：2dhklsinθ=nλ
裝置：衍射儀、四周衍射儀
方法及實用：衍射儀法（物相定性和定量分析，點陣常數測定，品粒度測定，殘餘應力測定，組織測定，非晶態結構分析）
照相法（物相定性分析，點陣常數測定，絲織物測定）
勞埃法（單晶定向，晶體對稱性測定）
四周衍射儀法（單晶結構分析，晶體學研究，化學鍵測定）
2 電子衍射分析
原理：利用運動電子束的波動性進行衍射分析。入射電子波樣品中各個原子彈性散射，被各原子彈性散射的電子相互干涉，在某些方向上一致加強，即形成了樣品的電子衍射波。
裝置：電子衍射儀、透射電子顯微鏡、反射式高能電子衍射儀、低能電子衍射儀
方法及實用：高能電子衍射分析（薄膜樣品）：微區結構分析與物相鑑定，晶體取向分析，晶體缺陷分析
低能電子衍射分析（固體樣品）：表面結構分析，表面吸附現象分析，表面缺陷分析
反射式高能電子衍射（固體樣品[尺寸大於5mm]）：表面結構分析，表面缺陷分析，表面原子逐層生長過程分析
3 光譜分析
4 電子能譜分析
原理：基於電磁輻射或運動實物粒子照射或轟擊材料產生的電子能譜進行材料分析
方法：光電子能譜（x射線光電子能譜、紫外光電子能譜），俄歇電子能譜（x射線引發餓歇能譜、電子引發餓歇能譜），離子中和譜，電子能量損失譜
裝置：光電子能譜分析儀，俄歇電子能譜儀
實用：元素定性分析，定量分析，結構分析和物質分析，固體表面分析，固體樣品探測
5 電子顯微分析
原理：基於電子束（波）與材料的相互作用而建立的各種材料現代分析方法
方法：透射電子顯微鏡，掃瞄電子顯微鏡，電子探針x射線顯微分析儀，電子激發俄歇電子能譜
實用：形貌分析，晶體結構分析，成分分析，斷裂過程動態研究，表面結構與表面化學分析，晶面吸附、擴散和脫附分析，表面缺陷、表面重構、擴散等分析
6 熱分析
原理：在程式控制溫度下，測量物質的物理性質與溫度之間關係
方法：測質量：熱重法、等壓質量變化測定、逸出氣檢測、逸出氣分析、反射熱分析、熱微粒分析
測溫度：差熱分析法、加熱曲線測定
測熱量：差示掃瞄量熱法
測尺寸：熱膨脹法
測力學特性：熱機械分析、動態熱機械分析
測聲學特性：熱發聲法、熱傳聲法
測光學特性：熱光學法
測電學特性：熱電學法
測磁學特性：熱磁學法
儀器：差熱分析儀、差示掃瞄量熱儀、熱重分析儀、熱膨脹儀、熱機械分析儀
實用：用於檢測物質因受熱而引起的各種物理和化學變化，對某一方面的定性或
定量測定
7 色譜分析
原理：基於混合物各組分在互不相溶的兩相中分配係數、吸附能力、溶解能力或阻滯能力等物理性質的差異，進行混合物組分分離和分析
方法：氣相色譜法、液相色譜法、超臨界流體色譜法
裝置：氣相色譜儀
實用：（1）大型電力變壓器故障診斷（2）油田開發（3）提高產品質量（4）多組分物質的分離和分析
8 質譜分析
原理：基於元素的質荷比進行材料定性、定量結構分析，特別是研究有機物結構
裝置：質譜儀
實用：元素定性分析、半定量或定量分析
現代檢測技術試題
1.壓電式感測器更適用於靜態測量，此觀點是否正確，分析原因。2.熱電偶產生的熱電動勢由哪幾種電動勢組成，試證明熱電偶的標準電極定律。3.說明光電效應的分類，並列舉出典型的器件。6分 4.簡述空速管工作原理,說明全壓 靜壓與氣流的相對關係。4分 5 什麼是壓電效應？壓電感測器等效電路的主要形式有哪幾個...
現代檢測技術發展趨勢複習總結
1，現代檢測技術發展趨勢 智慧型化，虛擬化，網路化，微型化，軟測量技術。2，測試系統 完成某個物理量的測量而由具有某一種或多種變換特性的物理裝置構成的總體。3，靜態特性指標 漂移，測量儀器在規定條件下其特性隨時間而緩慢變化的現象。回程誤差 相同條件下，被測量不變，測量儀器的行程方向不同，而同一出入量...
201春版 《現代檢測技術》實驗指導書
現代檢測技術 實驗指導書 李學聰馮燕編 廣東工業大學自動化學院 二 一 年四月 目錄實驗一熱電偶測溫及標定 綜合2 實驗二溫度變送器的調校4 實驗三交流訊號激勵的稱重感測器實驗7 實驗四光纖位移感測器的測量8 實驗五光纖感測器測速實驗9 附錄實驗報告 範本11 實驗專案名稱 熱電偶測溫及校驗 實驗專...