材料現代分析複習題
一、填空題
1、影響透射電鏡解析度的因素主要有：衍射效應和電鏡的像差（球差、像散、色差）等。
2、透射電子顯微鏡的照明系統由電子槍、聚光鏡和相應的平移對中、傾斜調節裝置組成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔經角小、平行度好、束流穩定的照明源。它應滿足明場和暗場成像需求。
3、透射電子顯微鏡的成像系統主要是由物鏡、中間鏡和投影鏡組成。
4、 當x射線管電壓超過臨界電壓就可以產生特徵譜 x射線和連續譜x射線。
5、 x射線與物質相互作用可以產生散射、入射、透射、吸收
6、 經過厚度為 h的物質後，x射線的強度為ih=i0exp(-μh
7、x射線的本質既是高頻率不可見《光》,也是電磁波，具有波粒二象性。
8、 短波長的x射線稱硬x射線，常用於衍射分析 ；長波長的 x射線稱
軟x射線，常用於螢光分析
9、 德拜相機有兩種，直徑分別是 57.3 和φ114.6 mm。測量θ角時，底片上每公釐對
應 2 和 1。
10、衍射儀的核心是測角儀圓，它由試樣臺、輻射源和探測器共同組成。
11、 可以用作 x射線探測器的有正比計數器、閃爍計數器和sili半導體探測器等
12、 影響衍射儀實驗結果的引數有狹縫寬度、掃瞄速度和時間常數等。
13、 x 射線物相分析包括定性分析和定量分析 ，而定性分析更常用更廣泛。
14、 第一類應力導致 x 射線衍射線峰線偏移（衍射線條位移） ；第二類應力導致衍射線峰線寬化(線條變寬)；第三類應力導致衍射線衍射強度降低 。
15、x 射線物相定量分析方法有內標法 、 外標法 、 無標樣法等。
16、 tem 中的透鏡有兩種，分別是磁透鏡和電透鏡 。
17、tem 中的三個可動光欄分別是第二聚光鏡光字段於第二聚光鏡焦點上，物鏡光字段於物鏡的背焦面上，選區光字段於
18、 tem 成像系統由物鏡、中間鏡和投影鏡與樣品室構成組成。
19、 tem 的主要組成部分是照明系統、成像系統和觀察記錄系統；輔助部分由真空系統、迴圈冷卻系統和控制系統組成。
20、 電磁透鏡的像差包括球差、像散、色差。
21、電子衍射和 x 射線衍射的不同之處在於電子散射強度大導致攝譜時間短不同、電子多次衍射導致電子束強度不能被測量不同，以及電子波長短導致的布拉格角小不同。
22、 電子束與固體樣品相互作用可以產生背散射電子、二次電子、吸收電子、俄歇電子 、 特徵x射線 、 透射電子 、可見光等物理訊號。
23、 掃瞄電子顯微鏡的放大倍數是顯示屏的掃瞄寬度與樣品上的掃瞄寬度的比值。在襯度像上顆粒、凸起的稜角是亮襯度，而裂紋、凹坑則是暗襯度。
24. 倒易向量的方向是對應正空間晶面的法線；倒易向量的長度等於對應晶面間距的倒數。
25. 影響衍射強度的因素除結構因素、晶體形狀外還有:角因素,多重性因素,溫度因素、試樣對x射線的吸收。
26、現代熱分析儀大致由五個部分組成：程式控溫系統、測量系統、顯示系統、氣氛控制系統、操作和資料處理系統。程式控溫系統由爐子和控溫兩部分組成。其中測量系統是熱分析的核心部分。
27、 影響dta曲線的因素包括三個方面： 操作方面的因素，樣品方面的因素，儀器方面的因素。
28、材料結構與效能的表徵包括（材料效能）、（微觀結構）和（成分）的測試與表徵。
29、材料成分和微觀結構分析可以分為三個層次：（化學成分分析）、（晶體結構分析）和（顯微結構分析）
30 、dsc圖譜的橫座標是（溫度或時間），縱座標是（熱量）；而dta圖譜的橫座標是（溫度或時間），縱座標是（溫差）。
二、選擇題
1.用來進行晶體結構分析的 x 射線學分支是（ b ）
射線透射學； 射線衍射學；射線光譜學；d.其它
2. m 層電子回遷到 k層後，多餘的能量放出的特徵 x射線稱（ b ）
a. kα；b. kβ；c. kγ；d. lα。
3. 當 x射線發生裝置是 cu 靶，濾波片應選（ c ）
a． cu；b. fe；c. ni；d. mo。
4. 當電子把所有能量都轉換為 x射線時，該 x射線波長稱（ a ）
a. 短波限λ0；b. 激發限λk；c. 吸收限；d. 特徵x射線
5.當 x射線將某物質原子的 k層電子打出去後，l 層電子回遷 k層，多餘能量將另乙個l 層電子打出核外，這整個過程將產生（ d ）
a. 光電子；b. 二次螢光；c. 俄歇電子；d. （a+c）
6.有一體心立方晶體的晶格常數是 0.286nm，用鐵靶 kα（λkα=0.194nm）照射該晶體能
產生（ b ）衍射線。
a. 三條； b .四條； c. 五條；d. 六條。
7.一束 x射線照射到晶體上能否產生衍射取決於（ c ） 。
a．是否滿足布拉格條件；b．是否衍射強度 i≠0；c．a+b；d．晶體形狀。
8. 電子束與固體樣品相互作用產生的物理訊號中可用於分析 1nm厚表層成分的訊號是（ b ）。
a．背散射電子；b.俄歇電子 ；c. 特徵x射線。
9. 中心暗場像的成像操作方法是（ c ）。
a．以物鏡光欄套住透射斑；b．以物鏡光欄套住衍射斑； c．將衍射斑移至中心並以物。
10.最常用的x射線衍射方法是（ b ） 。
a. 勞厄法；b. 粉末多晶法；c. 周轉晶體法；d. 德拜法。
11.測角儀中，探測器的轉速與試樣的轉速關係是（ b ） 。
a. 保持同步1﹕1 ；b. 2﹕1 ；c. 1﹕2 ；d. 1﹕0 。
12.衍射儀法中的試樣形狀是（ b ） 。
a. 絲狀粉末多晶；b. 塊狀粉末多晶；c. 塊狀單晶；d. 任意形狀。
13.若h-800電鏡的最高解析度是 0.5nm，那麼這台電鏡的有效放大倍數是（ c ） 。
a. 1000；b. 10000；c. 40000；d.600000。
14.可以消除的像差是（ b ） 。
a. 球差；b. 像散；c. 色差；d. a+b。
15. 可以提高tem 的襯度的光欄是（ b ） 。
a. 第二聚光鏡光欄；b. 物鏡光欄；c. 選區光欄；d. 其它光欄。
16. 電子衍射成像時是將（ a ） 。
a. 中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合；b. 中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合；
c. 關閉中間鏡；d. 關閉物鏡。
17.選區光欄在 tem 鏡筒中的位置是（ a ） 。
a. 物鏡的物平面；b. 物鏡的像平面 c. 物鏡的背焦面；d. 物鏡的前焦面。
18.單晶體電子衍射花樣是（ a ） 。
a. 規則的平行四邊形斑點；b. 同心圓環；c. 暈環；d.不規則斑點。
19. 僅僅反映固體樣品表面形貌資訊的物理訊號是（ b ） 。
a. 背散射電子；b. 二次電子；c. 吸收電子；d.透射電子。
20. 在掃瞄電子顯微鏡中，下列二次電子像襯度最亮的區域是（ c ） 。
a.和電子束垂直的表面；b. 和電子束成 30的表面；c. 和電子束成 45的表面；d. 和
電子束成 60的表面。
21. 掃瞄電子顯微鏡配備的成分分析附件中最常見的儀器是（ b ） 。
a. 波譜儀；b. 能譜儀；c. 俄歇電子譜儀；d. 特徵電子能量損失譜。
三、判斷題
1. 隨 x射線管的電壓公升高，λ0 和λk 都隨之減小
2. 激發限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問題
3. 經濾波後的 x射線是相對的單色光
4. 產生特徵x射線的前提是原子內層電子被打出核外，原子處於激發狀態。 （√ ）
5. 選擇濾波片只要根據吸收曲線選擇材料，而不需要考慮厚度。 （ × ）
6.倒易向量能唯一地代表對應的正空間晶面。 （√ ）
射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等於反射角就行。 （ × ）
8.干涉晶面與實際晶面的區別在於：干涉晶面是虛擬的，指數間存在公約數 n。 （ √ ）
9.布拉格方程只涉及 x射線衍射方向，不能反映衍射強度。 （ √ ）
10.衍射儀法和德拜法一樣，對試樣粉末的要求是粒度均勻、大小適中，沒有應力
11. x 射線衍射之所以可以進行物相定性分析，是因為沒有兩種物相的衍射花樣是完全相
同的。 （ √ ）
12.理論上 x 射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。 （ √ ）
13.孔徑半形α是影響解析度的重要因素，tem 中的α角越小越好。 （ × ）
14.有效放大倍數與儀器可以達到的放大倍數不同，前者取決於儀器解析度和人眼解析度，
後者僅僅是儀器的製造水平。 （√）
中主要是電磁透鏡，由於電磁透鏡不存在凹透鏡，所以不能象光學顯微鏡那樣通過
凹凸鏡的組合設計來減小或消除像差，故 tem中的像差都是不可消除的。 （ √ ）
的景深和焦長隨解析度δr0 的數值減小而減小；隨孔徑半形α的減小而增加；隨放大倍數的提高而減小。 （ × ）
17.明場像是質厚襯度，暗場像是衍襯襯度。 （ × ）
18.掃瞄電子顯微鏡中的物鏡與透射電子顯微鏡的物鏡一樣。 （× ）
19. 掃瞄電子顯微鏡具有大的景深，所以它可以用來進行斷口形貌的分析觀察。 （√ ）
20、襯度是指圖象上不同區域間明暗程度的差別。（√ ）
四、名詞解釋
1、系統消光：因f2=0而使衍射線消失的現象稱為系統消光。
2、景深與焦長：將由衍射和像差產生散焦斑的尺寸r0所允許的物平面軸向偏差定義為透鏡的景深df,在一定解析度下，具有透鏡景深範圍內的試樣各部分的影象都具有相同的清晰度。透鏡的焦深：
將由衍射和像差產生散焦斑的尺寸r0所允許的像平面軸向偏差定義為透鏡的景深dl。
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