1. 範圍
本部分規定了採用a 型脈衝反射式探傷儀工件缺陷的超聲檢測方法和質量分級要求。
本部分適用於金屬材料制裝置用原材料、零部件、和焊接接頭的超聲檢測，也適用於金屬製在用裝置的超聲檢測。
2. 引用標準
jb/t4730.1-2005 承壓裝置無損檢測第1 部分：通用要求
jb/t4730.3-2005 承壓裝置無損檢測第3 部分：超聲檢測
3. 一般要求
3.1 超聲檢測人員
超聲檢測人員的一般要求應符合jb/t4730.1 的有關規定。
3.2 檢測裝置
3.2.1 超聲檢測裝置均應具有產品合格證或合格的證明檔案。
3.2.2 探傷儀、探頭和系統效能
a) 探傷儀
採用a 型脈衝反射式超聲波探傷儀，其工作頻率範圍為0.5～10mhz,儀器至少在螢光屏滿刻度的80%範圍內呈線性顯示。探傷儀應具有80db 以上的連續可調衰減器，步進級每檔不大於2db，其精度為任意相鄰12db 的衰減在±1db 以內，最大累計誤差不超過1db。
水平線性誤差不大於1%，垂直線性誤差不大於5%。其餘指標應符合jb/t 10061 的規定。
b) 探頭
● 晶元面積一般不應大於500mm2，且任一邊長原則上不大於25mm；
● 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大於2°，主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰。
c) 超聲探傷儀和探頭的系統效能
● 在達到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度餘量應不小於 10db；
● 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大於±10%；
● 儀器和直探頭組合始脈衝寬度（在基準靈敏度下）：對於頻率為5mhz 的探頭，寬度不大於10mm；對於頻率為2.5mhz 的探頭，寬度不大於15mm；
● 直探頭的遠場分辨力應不小於 30db，斜探頭的遠場分辨力應不小於6db；
● 儀器和探頭的系統效能按應 jb/t 9241 和jb/t 10062 的規定進行測試。
3.3 超聲檢測一般方法
3.3.1 檢測準備
a) 裝置的製造、安裝和在用檢驗中，超聲檢測的檢測時機及抽檢率的選擇等應按相關法規、標準及有關技術檔案的規定；
b) 所確定檢測面應保證工件被檢部分均能得到充分檢查；
c) 焊縫的表面質量應經外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的鏽蝕、飛濺和汙物等都應予以清除，其表面粗糙度符合檢測要求。表面的不規則狀態不得影響檢測結果的正確性和完整性，否則應做適當的處理。
3.3.2 掃查覆蓋率
為確保檢測時超聲聲束能掃查到整個被檢區域，探頭的每次掃查覆蓋率應大於探頭直徑的15%。
3.3.3 探頭的移動速度
探頭的掃棵速度不應超過150mm/s。當採用自動報警裝置掃查時，不受此限。
3.3.4 掃查靈敏度
掃查靈敏度通常不得低於基準靈敏度。
3.3.5 耦合劑
應採用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。
3.3.6 靈敏度補償
a) 耦合補償：在檢測和缺陷定量時，應對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償；
b) 衰減補償：在檢測和缺陷定量時，應對材質衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償；
c) 曲面補償：對探測面是曲面的工件，應採用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試驗進行曲率補償。
3.4 系統校準和複核
3.4.1 一般要求
系統校準應在標準試塊上進行，校準中應使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，
以獲得穩定和最大的反射訊號。
3.4.2 儀器校準
每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定，測定方法按jb/t 10061 的規定。
3.4.3 新購探頭測定
新購探頭應有探頭效能引數說明書，新探頭使用前應進行前沿距離、k 值、主聲束偏離、靈敏度餘量和分辨力等主要引數的測定。測定應按jb/t 10062 有關規定進行，並滿足其要求。
3.4.4 檢測前儀器和探頭系統測定
a) 使用儀器----斜探頭系統，檢測前應測定前沿距離、k 值和主聲束偏離，調節或複核掃瞄量程和掃查靈敏度；
b) 使用儀器----直探頭系統，檢測前應測定始脈衝寬度、靈敏度餘量和分辨力，調節或複核掃瞄量程和掃查靈敏度。
3.4.5 檢測過程中儀器和探頭系統的複核
遇有下述情況應對系統進行複核
a) 校準後的探頭、耦合劑和儀器調節旋鈕發生改變時；
b) 檢測人員懷疑掃瞄量程或掃查靈敏度有變化時；
c) 連續工作 4 小時以上時；
d) 工作結束時。
3.4.6 檢測結束前儀器和探頭系統的複核
a) 每次檢測結束前，應對掃瞄量程進行複核。如果任意一點在掃瞄線上的偏移超過掃瞄線讀數的10%，則掃瞄量程應重新調整，並對上一次複核以來所有的檢測部位進行複檢。
b) 每次檢測結束前，應對掃查靈敏度進行複核。一般對距離----波幅曲線的校核不應少於3 點。如曲線上任何一點幅度下降2db，則應對上一次複核以來所有檢測部位進行複檢；如幅度上公升2db，則應對所有的記錄訊號進行重新評定。
3.4.7 校準、複核的有關注意事項
校準、複核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或濾波
開關等）都應放在關的位置或處於最低水平上。
3.5 試塊
3.5.1 標準試塊
a) 標準試塊是指本部分規定的用於儀器探頭系統效能校準的試塊，本部分採用的標準試塊有：
● 鋼板用標準試塊：cbⅰ、cbⅱ；
● 鍛件用標準試塊：csⅰ、csⅱ、csⅲ；
● 焊接接頭用標準試塊：csk-ⅰa、csk-ⅱ、csk-ⅲa；csk-ⅳa。
b) 標準試塊應採用與被檢工件聲學效能相同或近似的材料製成，該材料用直探頭檢測時，不得有大於或等於φ2mm 平底孔當量直徑的缺陷；
c) 標準試塊尺寸精度應符合本部分的要求，並應經計量部門檢定合格；
d) 標準試塊的其他製造要求應符合 jb/t 10063 和jb/t 7913 的規定。
3.5.2 對比試塊
a) 對比試塊是指用於檢測校準的試塊；
b) 對比試塊的外形尺寸應能代表被檢工件的特徵，試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。如果涉及到兩種以上不同厚度部件焊接粒狀的檢測，試塊的厚度應由最大厚度來確定。
c) 對比試塊反射體的形狀、尺寸和數量應符合 jb/t4730 的規定。
3.5.3 核查
a) 新購入的標準試塊、對比試塊，應有有效的合格證書；
b) 標準試塊、對比試塊每次使用前，應進行外觀腐蝕及機械損傷情況核查；每隔4 年應採用經校準的器具對其半徑及其它尺寸進行核查。
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