內蒙古工業大學2012-2013學年第2學期
《材料現代分析方法c》期末試卷 (課程**：040415007)
試卷審核人： 考試時間：
注意事項：１.本試卷適用於專業學生使用。
２.本試卷共 6 頁，滿分100分。答題時間90分鐘。
班級姓名學號
一、 判斷對錯（具體要求: 每小題2分，共10分）
1.透射電鏡的解析度由物鏡決定，而掃瞄電鏡的解析度由所收集訊號的解析度決定。（ ）
2. 當干涉指數為任意整數時，干涉面都代表了一族真實的晶面。（ ）
3.x射線衍射具有「選擇反射」特性。即只有當λ、θ、d三者之間滿足布拉格方程時才能發生反射，而可見光可以在任何入射角反射。（ ）
4. 衡量乙個原子對入射x射線的散射採用原子散射因子，而衡量乙個結構對入射x射線的散射採用結構因子。（ ）
5.單晶體電子衍射花樣由排列得十分整齊的許多斑點組成；多晶體電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環；非晶體電子衍射花樣是乙個漫散的中心斑點。（ ）
二、 填空題（具體要求：每小題1分，共30分）
1、愛因斯坦稱讚勞厄的實驗為「物理學最美的實驗」，該實驗肯定了證實了在同一數量級。
2、x射線的本質為電磁波，具有波粒二相性--既具有又具有
3是描述x射線性質的物理量；而_________則是描述x射線數量的物理量。
4、產生特徵x射線的最低管電壓為而產生螢光x射線所需要的最長x射線波長為
5、據入射的x射線波是否有能量損失，散射分為和
6、x射線在晶體中的衍射現象，實質上是的結果；而x射線衍射理論所要解決的中心問題則是在衍射現象與晶體結構之間建立起的關係。
7、 布拉格方程既可用於的分析，又可用於分析。
8、採用德拜相機照相時，底片的安裝常採用法，因為它可以消除因底片收縮、相機半徑不准等而產生的誤差。
9、 材料或物質的組成包括兩部分，一是二
是10、x射線物相分析是以為基礎，通過比較來進行分析。
11、電磁透鏡的解析度由決定，而像散則可用進行補償，減小色差則通過實現。
12、透射電子顯微鏡一般都採用雙聚光鏡系統，其第一聚光鏡是將電子槍第一交叉點束斑縮小為φ1μm～5μm；第二聚光鏡是適焦時放大倍數為2倍左右。
13、電子衍射的原理和x射線衍射相似，是以滿足（或基本滿足作為產生衍射的必要條件。
14、二次電子對試樣表面狀態非常敏感，能非常有效地顯示試樣表面的微觀形貌，可用於樣品表面的分析。二次電子的產額和原子序數間沒有明顯的依賴關係，不能進行分析。
15、用來測定x射線特徵波長的譜儀叫做譜儀，用來測定x射線特徵能量的譜儀叫做譜儀。
三、 簡答題（具體要求：本題共6道小題，共40分）
1、討論下列各組概念中二者之間的關係？⑴同一物質的發射譜和吸收譜；⑵x射線管靶材的發射譜和與其配用的濾波片的吸收譜。（6分）
2、試計算及的共同晶帶軸？（8分）
3、多重性因子的物理意義是什麼？某立方晶系晶體，其的多重性因子是多少？如該晶體轉變為四方晶系，這個晶面族的多重性因子會發生什麼變化？（6分）
4、分別說明成像操作與衍射操作時各級透射電子顯微鏡之間的相對位置關係？（7分）
5、用愛瓦爾德**法證明布拉格定律？（7分）
6、掃面電子顯微鏡的成像原理與透射電子顯微鏡有何不同？（6分）
四、 綜合題（具體要求：本題共2道小題，每小題10分，計20分）
1、試用所學知識解釋下圖？（10分）
2、試據結構因數的計算公式，推導體心立方點陣電子衍射發生消光的晶面指數規律？注，該體心立方點陣中只有一種原子。（10分）
材料現代分析方法
1 掃瞄電鏡的解析度受電子束束斑大小,檢測訊號型別,檢測部位原子序數因素影響.用不同的訊號成像時，解析度se和he訊號的解析度最高,be其次,x射線的最低.所謂掃瞄電鏡的解析度是指用掃瞄電鏡的解析度是指用se和he訊號成像時的解析度.2.衍射線在空間的方位主要取決於晶體的面網間距，或者晶胞的大小。衍...
現代材料分析方法複習
一 填空及選擇 1 是x射線衍射分析等方法的技術基礎 非相干散射在一般情況下則給衍射分析帶來不利影響.2 掃瞄電鏡二次電子像的襯度包括磁襯度 成分襯度 和形貌襯度。3 x射線檢索手冊按檢索方法可分為兩類，一類為字母索引，另一類為 索引。4 x射線衍射波具有兩個基本特徵 衍射方向和衍射 二者與晶體內原...
材料現代分析方法試題
材料現代分析方法試題1 參 一 基本概念題 共10題，每題5分 1 x射線的本質是什麼？是誰首先發現了x射線，誰揭示了x射線的本質？答 x射線的本質是一種電磁波？倫琴首先發現了x射線，勞厄揭示了x射線的本質？5 透射電鏡主要由幾大系統構成?各系統之間關係如何?答 四大系統 電子光學系統,真空系統,供...