一、 射線檢測
1、 **曲線的核查方法
1.1核查週期
射線裝置均應製作**曲線，**曲線每年至少核查一次；射線裝置更換重要部件或經較大修理後，應及時對**曲線進行核查。
1.2準備
準備一塊階梯試塊（圖1）和2塊補充試塊，材料與被透照工件相同或相近。其中補充試塊尺寸長*寬*高為210*100*10（mm）。
膠片、增感屏等材料與製作**曲線時一致。
圖1 製作**曲線的階梯試塊
1.3 透照
各機型按表一選擇低、中、高三個管電壓進行**三次，**時其他引數（**時間、焦距）與製作**曲線時一致。得到一組膠片。
表一1.4 暗室處理：按照製作**曲線時的暗室處理條件進行沖洗膠片。
1.5 測定：分別測定底片黑度為3.0（該黑度值與**曲線一致）時，對應的階梯試塊厚度。
1.6 核查結果判定：當上述測定的三個厚度值，與低、中、高管電壓查原**曲線的厚度值之差在±2mm範圍內，**曲線合格。否則為不合格，應重新製作。
1.7 **曲線核查記錄，按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl120」的**進行記錄。
2、黑度計（光學密度計）的核查方法
2.1. 適用範圍
本規程用於對射線照相底片的黑度測量的黑度計的校驗，使黑度計能夠對射線底片黑度作出可靠的測定。黑度計應每6個月校驗一次，標準黑度片應每2年送計量單位檢定一次。
2.2. 校驗需用標準器具
檢定合格的標準黑度片乙個。
2.3 操作步驟
2.3.1 接通黑度計電源和測量開關，預熱10min 左右。
2.3.2 用標準黑度片的零黑度點校準黑度計零點。校準後順序測量黑度片上不同黑度的各點的黑度，記錄測量值。
2.3.3 按3.2的規定反覆測量三次。
2.3.3 計算出各點測量值的平均值，以平均值與黑度片該點的黑度值之差作為黑度計的測量誤差。
2.3.4 對黑度不大於4.5的各點的測量誤差均應不超過±0.05，否則黑度計應校準、修理或報廢。
2.4 記錄及標識
校驗完畢後在儀器上進行標識，校驗人員應按黑度計校驗報告內容對測試資料認真記錄並評價結論。
2.5 黑度計核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl121」的**進行記錄。
3、觀片燈的亮度和均勻度的核查方法
3.1核查週期
觀片燈的亮度和均勻度，應每年進行核查。
3.2 技術要求
3.2.1亮度
觀片燈應具有按照照相底片的黑度進行亮度選擇的裝置。觀片燈亮度要求的最小值見表二。
表二透過射線照相底片的亮度，當底片黑度≤2.5時，應不小於30 cd/m2；當底片黑度》2.5時，應不小於10 cd/m2。
3.2.2均勻係數
觀察屏各部分應有均勻照明，均勻係數應大於0.5。
3.3 核查方法
3.3.1一般要求
所有的光度測定均在暗室進行，照明光度計必須放在測定範圍的中心，而且即使當觀察屏完全被遮住後，從觀片燈漏出的光不影響測定。
3.3.2核查裝置
試驗時所用裝置須持有國家計量單位簽發的有效證書，測量光學引數時所用的亮度計應符合jjg 221的要求。
3.3.3 亮度測定
觀片燈亮度測定用亮度計進行。
3.3.4均勻係數測定
照明均勻係數測定用亮度計進行。把觀察屏分成若干正方形，正方形每邊長3.5cm，分別測定每個正方形的亮度。
找出四個最大亮度值和四個最小亮度值，並計算出lmax和lmin亮度的算術平均值，均勻係數g=lmin/lmax。
3.4 觀片燈的亮度和均勻度核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl122」的**進行記錄。
二、超聲檢測
1 試塊的核查方法
1.1 初次使用的標準試塊、對比試塊，應有有效的合格證書。
1.2 標準試塊、對比試塊每次使用前，應進行外觀腐蝕及機械損傷情況核查；每4年應採用經校準的器具對其半徑及其他尺寸進行核查。
1.3 超聲試塊的核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl123」的**進行記錄。
2 水平線性和垂直線性核查方法
水平線性和垂直線性核查方法見我公司「超聲波探傷系統校驗規程」，每隔3個月應核查一次。垂直線性核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl124」的**進行記錄。
水平線性核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl125」的**進行記錄。
3 探頭使用前主要引數核查方法
探頭使用前，應進行前沿距離（入射點）、k值與雙峰、主聲束偏離等主要引數核查。
3.1前沿距離的核查方法
3.1.2測試裝置
探傷儀及csk-ia試塊。
3.1.3測試方法
將斜探頭壓在試塊上如圖2 所示的位置，中間加適當的耦合劑以保持穩定的聲耦合。使聲束朝向r100 mm的曲面，並在探頭聲束軸線與試塊側面保持平行的情況下前後移動探頭，至曲面回波的幅度達到最大。
讀出試塊上r100 mm圓心標記線所對應的探頭側面刻度，此刻度位置即斜探頭的入射點，讀數應精確到0.5 mm。
前沿距離：用刻度尺測量入射點到探頭前沿距離，讀數應精確到0.5 mm。
3.2 k值的核查方法
測試裝置同3.1.2。
將斜探頭壓在試塊上的不同位置，如圖5a）和圖5b），中間加適當的耦合劑以保持穩定的聲耦合。
abc）
圖3a）當k值為1.0~1.5 時，探頭放在圖3a）的位置，使用φ50 mm孔的回波進行測定。
b）當k值為2.0~3.0 時，探頭放在圖3b）的位置，使用φ50 mm孔的回波進行測定。
在探頭聲束軸線與試塊側面保持平行的情況下前後移動探頭，使回波達到最大。從探頭入射點在試塊側面所對應的刻度值即可直接讀出斜探頭的k值。
3.3 雙峰的核查方法
探頭雙峰用csk-ia深度15mm的φ1.5橫通孔來測定。如圖4a）所示。探頭對準橫孔，並前後平行移動，當顯示屏上出現圖4b）所示的雙峰波形時，說明探頭具有雙峰現象。
圖43.4主聲束偏離的核查方法
測試裝置同3.1.2。
將探頭置於csk-ia標準試塊25mm厚的表面上，其中，對於k≤1的探頭，測試時用試塊上端麵；如圖5（a），對於k>1的探頭，測試時用下端麵，如圖5（b），前後移動和左右擺動探頭，使所測試端麵回波幅度最高，然後用量角器測量探頭側面與試塊端麵法線的夾角θ，如圖5（c）。
夾角θ表示主聲束偏離，讀數精確到0.5。
圖53.5 探頭使用前核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl126」的**進行記錄。
4 超聲檢測系統使用前主要引數核查方法
4.1斜探頭主要引數核查方法
斜探頭前沿距離、k值及主聲束偏離核查方法同3條。
4.2 直探頭主要引數核查方法
4.2.1 始脈衝寬度
4.2.1.1測試裝置
探傷儀、標準試塊csk-ia、對比試塊db-p(z20-2)。
4.2.1.2測試步驟
a)調節探傷儀的發射強度，使被測探頭阻尼電阻值接近其等效電阻。
b)將被測探頭置於csk-ia標準試塊上厚度100mm處，調節探傷儀，使第一次底波b1前沿對準水平刻度「5」，第二次底波b2前沿對準水平刻度「10」，並使b2的幅度為垂直刻度的50%~80%,如圖6（a）。
c）將探頭置於對比試塊db-p(z20-4)上，移動探頭使孔波最高，調節（衰減器）使孔波幅度為垂直刻度的50%，再把（衰減器）的衰減量減少12db，然後讀取從刻度板的零點至始波後沿與垂直刻度20%線交點所對應的水平距離w1如圖6（b），w1為負載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示。
圖6 d）將探頭置於空氣中，摖去其表面油層，讀取從刻度板的零點至始波後沿與垂直刻度20%線交點所對應的水平距離w0，w0為空載始波寬度，用鋼中縱波傳播距離表示。
4.2.2 靈敏度餘量
4.2.2.1測試裝置
探傷儀、對比試塊db-p(z20-2)。
4.2.2.1方法
a)探傷儀的抑制置於「0」或「斷」，其他調整取適當值，最好選取在隨後檢測工作中將使用的調整值。
b)將儀器的增益調至最大，但如電雜訊較大時應降低增益（調節增益控制器或衰減器），
使電雜訊電平降至10%滿刻度。設此時衰減器的讀數為s0。
c）將探頭壓在試塊上，中間加適當的耦合劑，以保持穩定的聲耦合，移動探頭，使平底孔回波最大，調節衰減器，使平底孔回波高度降至50%滿刻度。設此時衰減器的讀數為si。
d）超聲檢測系統的靈敏度餘量s=si-s0。
4.2.3 分辨力
4.2.3.1測試裝置
探傷儀、csk-ia試塊。
4.2.3.1方法
a)探傷儀的抑制置於「0」或「斷」，其他調整取適當值。
b)將探頭壓在試塊上如圖7所示的位置，中間加適當的耦合劑以保持穩定的聲耦合。調整儀器的增益並左右移動探頭，使來自a、b兩個面的回波幅度相等並約為20%~30%的滿刻度，如圖7中h1。
c）調節衰減器：使a、b兩波峰間的波谷上公升到原來波峰高度，此時衰減器所釋放的db數（等於用衰減器的缺口深度h1/h2之值）即為以db值表示的超聲檢測系統的分辨力x。
圖7 直探頭的分辨力測試和回波顯示
4.2.4 直探頭主要引數核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl127」的**進行記錄。
三、磁粉檢測
1 提公升力核查方法
磁粉探傷機的提公升力，至少每半年應採用經校準的提公升力重力試塊進行核查。在磁軛損傷修復後應重新核查。
當使用磁軛最大間距時，交流電磁軛至少應有45n的提公升力；直流電磁軛至少應有177n的提公升力；交叉磁軛至少應有118n的提公升力（磁極與試件表面間隙為0.5mm）。
磁粉探傷機提公升力核查記錄按「檔案編號：ythndt/qm04–c-jl128」的**進行記錄。
儀器裝置期間核查方法
建設工程質量檢測站 質量管理體系檔案jcc12 2012 儀器裝置期間核查 作業指導書 2012 10 10發布2012 10 15實施 建設工程質量檢測站頒布 建設工程質量檢測站 質量管理體系檔案jcc12 2012 儀器裝置期間核查 作業指導書 2012 10 10發布2012 10 15實施 ...
儀器裝置期間核查計畫
為了解儀器狀態，維護儀器裝置在兩次校準期間校準狀態的可信度，減少由於儀器穩定性變化造成的結果偏差，對以下在用的主要儀器裝置在兩次檢定 校準 之間進行期間核查，以保證檢測儀器裝置及相關檢測結果的準確性和可靠性。制定人 審核人 批准人 儀器裝置期間核查規程 一 目的 為了解儀器狀態，維護儀器裝置在兩次校...
儀器裝置期間核查計畫
一 目的 為了證明本公司在用測量裝置 檢驗裝置在檢定校準間隔內，保持其準確可靠，特制訂本計畫。二 適用範圍 適用於本公司在使用測量裝置 檢驗裝置的期間核查。三 職責 1.檢測組負責人負責期間核查方案的制定和實施 2.技術管理者負責審批期間核查方案，組織實施 3.辦公室負責對期間核查實施監督管理。四 ...