片式電容出廠檢驗規範

2022-06-02 13:39:03 字數 1952 閱讀 8307

一、 檢查文明生產執**況

1、檢查工作台上是否只有一種規格的產品,不應有與產品無關的物品;

2、檢查產品流轉卡的記錄是否及時、完整、準確;

3、檢查自身的工作著裝是否整潔、規範;

4、檢查地面有無掉落品。

二、 檢驗檢查專案(每一批的產品都要抽檢並作好記錄)

1、外觀的抽檢

(1)印字不良

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.25

(2)產品倒裝

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.04

(3)引線斷

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.04

(4)印字反向

檢查方法:目測

檢查標準:見樣本

抽樣及判定標準:每盤中不允許有乙隻

(5)裝盒裝反向

檢查方法:目測

檢查標準:見樣本

抽樣及判定標準:每盤中不允許有乙隻

(6)引線偏斜

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.25

(7)盒內有異物

檢查方法:目測

檢查標準:見樣本

抽樣及判定標準:每盤中不允許有乙隻

(8)底座板破損

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:不允許有一盤

(9)匣盒帶破損

檢查方法:目測

檢查標準:見樣本

抽樣及判定標準:不允許有一盤

(10)底座產品夾傷

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:不允許有一盤

(11)產品側裝

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:不允許有一盤

(12)混產品

檢查方法:目測

檢查標準:不能有不同型號、規格/尺寸的產品

抽樣及判定標準:一盤中不允許有乙隻

(13)堵住導孔

檢查方法:目測

檢查標準:見限度樣本

抽樣及判定標準:不允許有一盤

2、產品包裝的外觀檢查

(1) 用錯標籤及標籤不清

檢查方法:目測

檢查標準:對比

抽樣及判定:不能有不合格者

(2) 包裝數不符

檢查方法:計數法

檢查標準:φ4產品每一盤2000只,φ5、φ6.3產品每盤1000只。

抽樣及判定:不能有不合格者

2、產品效能引數的檢測(當發貨規格的數量不超過150隻時,該規格產品全檢)

1、 容量

檢查方法:用容量損耗測試儀進行檢測

檢查標準:見v—chip出廠檢驗三參數列

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.04

2、 損耗

檢查方法:用容量損耗測試儀進行檢測

檢查標準:見v—chip出廠檢驗三參數列

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.04

3、 漏電流

檢查方法:用漏電流測試儀進行檢測

檢查標準:見v—chip出廠檢驗三參數列

抽樣及判定標準:il:ii aql:0.04

三、 特殊質量問題的處理

當發生異常質量問題時,檢驗應先確認問題的輕重,對較輕的質量問題應當自己處理好,對於嚴重問題,則應當立即對異常產品進行隔離,並註明隔離原因,同時填寫《質量異常處理卡》,報許可權主管,判定其需特採或報廢。

v—chip出廠檢驗三參數列

備註:特殊規格的引數設定按如下公式:1、cmin=c標×0.

81;cmax= c標×1.19 。2、iu=0.

0075crur或2.25μa取大值。3、損耗以上表為標準。

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