老化篩選的原理及作用是給電子元器件施加熱的、電的、機械的或者多種結合的外部應力，模擬惡劣的工作環境，使它們內部的潛在故障加速暴露出來，然後進行電氣引數測量，篩選剔除那些失效或變值的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。 老化篩選的指導思想是，經過老化篩選，有缺陷的元器件會失效，而優質品能夠通過。這裡必須注意實驗方法正確和外加應力適當，否則，可能對參加篩選的元器件造成不必要的損傷。
目前我司使用的老化篩選專案有高溫儲存老化、高低溫迴圈老化、高低溫衝擊老化和高溫功率老化等。下面把各個試驗方法作一簡要介紹： （1）、高溫儲存老化：
把器件置於150℃的恆溫箱內放置168小時，考慮到我司實際情況，目前放置時間為48小時。 （2）、高低溫迴圈老化：把器件置於-55℃的低溫中15分鐘，然後置於25℃的環境中5分鐘，再置於150℃的環境中15分鐘，如此迴圈10次。
（3）、高低溫衝擊老化：把器件置於0℃的環境中5分鐘，然後取出馬上置於100℃的環境中5分鐘，接著取出馬上置於0℃的環境中5分鐘，如此迴圈10次。 （4）、高溫功率老化：
對於普通整流管、開關管等施加80％的vr額定電壓，然後置於125℃的環境中168小時，考慮到我司實際情況，目前是置於105℃的環境中48小時；對穩壓管我司目前是施加66％的功率置於70℃的環境中48小時。 二極體的加速壽命試驗加速壽命試驗是指採用加大應力的方法促使樣品在短期內失效，以**在正常工作條件或儲存條件下的可靠性，但不改變受試樣品的失效分布。 通過加速壽命試驗可達到以下目的：
（1）、在較短時間裡，對高可靠元器件的可靠性水平進行評估，可用外推法快速**在規定條件下的失效率； （2）、在較短時間內，對元器件可靠性設計、工藝改進和可靠性增長的效果進行評估； （3）、在較短時間內，加速暴露元器件失效模式和機理，從而可正確地制定失效判據和篩選條件。 必須指出，元器件的電氣規格引數指標與其效能穩定可靠是不同的概念，兩者之間並沒有直接的聯絡。規格引數良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，規格引數差一些的元器件，其可靠性也不一定低。
電子元器件的大部分規格引數都可以通過儀表立即測量出來，但是它們的可靠性和穩定性卻必須通過各種可靠性試驗，或者大量（或長期）的使用之後才能判斷出來。 電子元器件的失效率資料，可以通過對它的可靠性試驗求得： λ＝失效率＝失效數÷（試驗器件的總數×運用時間） 失效率的常用單位是fit（1fit＝10-9/h），一百萬個元器件運用1000h有1個失效，就叫做1fit。
失效率越低，說明元器件的可靠性越高。 二極體使用的一些注意事項二極體應該按照極性接入電路，大部分情況下，應該使二極體的正極（或稱陽極）接電路的高電位，而穩壓二極體的負極（或稱陰極）要接電源的正極，其正極接電源負極。 二極體正常工作需要一定的條件，如果工作條件超過允許的範圍，則不能正常工作，甚至造成永久性的損壞。
為使二極體能夠長期穩定執行，必須注意下列事項： （1）、切勿使電壓、電流超過器件手冊中規定的極限值，並應根據設計原則選取一定的裕量。
（2）、允許使用小功率電烙鐵進行焊接，焊接時間應該小於3～5s，在焊接點接觸型二極體時，要注意保證焊點與管芯之間有良好的散熱。 （3）、玻璃封裝的二極體引線的彎曲處距離管體不能太小，一般不少於2mm。 （4）、二極體的位置盡可能不要靠近電路中的發熱元件。
（5）、用穩壓管時應注意，二極體的反向電流不能無限增大，否則會導致二極體中的熱量過高而燒毀。因此，穩壓管在電路中一般需要串聯限流電阻，以限制耗散功率。
二極體的檢測方法
1 檢測小功率晶體二極體 a 判別正 負電極 a 觀察外殼上的的符號標記。通常在二極體的外殼上標有二極體的符號，帶有三角形箭頭的一端為正極，另一端是負極。b 觀察外殼上的色點。在點接觸二極體的外殼上，通常標有極性色點 白色或紅色 一般標有色點的一端即為正極。還有的二極體上標有色環，帶色環的一端則為負...
二極體簡介
一 半導體特點 1.導電能力在道題和絕緣體之間 2.熱敏性 溫度可以明顯改變半導體的導電率 3.光敏性 光照可以明顯改變半導體的導電率，還可以產生電動勢，這是bjt的光電效應 4.摻雜性 通過摻入雜質可以明顯改變半導體的導電率 在30 的純鍺中摻入一億份之一的雜質，電導率增加幾百倍 二 雜質半導體 ...
二極體種類
一 根據構造分類 半導體二極體主要是依靠pn結而工作的。與pn結不可分割的點接觸型和肖特基型，也被列入一般的二極體的範圍內。包括這兩種型號在內，根據pn結構造面的特點，把晶體二極體分類如下 1 點接觸型二極體 點接觸型二極體是在鍺或矽材料的單晶元上壓觸一根金屬針後，再通過電流法而形成的。因此，其pn...