萬用表測各種元器件

1、測二極體

黑筆接二極體的正極，紅筆接負極，良好的二極體應該讀數很小。

紅筆接正極，黑筆接負極，對於矽管，讀數應該接近無窮大，對於鍺管，讀數應該是幾百千歐。如果讀數為零，則表示二極體已經損壞。

2、可控矽測試

正錶筆接可控矽的陽極，負錶筆接陰極，控制極空著，讀數應該很大，如果可控矽是好的則對調錶筆後讀數應與前者相同，否則可控矽損壞。

錶筆不動，用跨接線將可控矽陽極和控制極連線起來，讀數應該下降到小阻值。

取下跨接線，其他一切不變，此時讀數應該與上面保持同步。可控矽導通後，控制極失去作用。

將任意一支錶筆斷開後再接上，可控矽關斷，讀數應回到原來的大阻值。

如果測試結果與應得的結果不符，則該期間損壞。

3、穩壓二極體的**測試

測量與穩壓二極體併聯的電阻兩端的電壓。如果該電壓大大低於製造廠介紹的電壓額定值，應斷開二極體，斷開後如果電壓讀數大大高於額定值，則表示該二極體漏電，應更換，如果電壓不變化，見下一步。

測量負載兩端的電壓時，如果電壓很低，還可能是負載電路超載了，這時應該斷開二極體，看看電壓表讀數有無變化，如果無變化則表示電路本身超載了。

如果穩壓二極體有開路跡象，應斷開它，斷開後電壓讀數仍無變化，則表示穩壓二極體開路了。

4、晶體三極體的測試

將兩支錶筆分別接到三極體的基極和發射極，讀出阻值，然後將錶筆對調再讀出另乙個阻值，如果電晶體是好的，則乙個方向的阻值很大，另乙個很小。

將兩支錶筆分別接到三極體的基極和集電極，讀數後對調錶筆再讀數，電阻讀數也應該是乙個大乙個小。

將兩支錶筆分別接到三極體的發射極和集電極，無論錶筆極性如何，兩次測得的電阻讀數應該很大。如果讀數很小，表示三極體損壞。

npn型三極體是正嚮導通，即基極和發射極之間電阻很大時應該正錶筆接基極，負錶筆接發射極，pnp型npn型相反。

5、晶體三極體的**測試

將高輸入阻抗電壓表跨接在集電極迴路電阻的兩端（共發射極接法），用螺絲刀或跨接線將發射機和基極短接，如果電晶體正常，讀數應該公升高，如果電壓表讀數無變化，則問題在集電極――發射極迴路。

測量基極對發射極的正向偏壓，如果它很低或者根本無偏壓，可將10千歐的電阻跨接在集電極和基極之間（共發射極接法），以便判斷毛病出在電晶體還是其他電路。接上跨接電阻後，監視集電極電壓，如果電晶體是好的，集電極電壓應該降低，，如果電壓確實降低了，則問題出在偏壓迴路。

6、電容質量測試

一般用萬用表電阻擋10k量程測試，容量較小的電容，其電阻近似無窮大，若有電阻指示，說明有漏電現象。

判斷電解電容的好壞也是用萬用表的電阻擋，用黑錶筆接電容正極，紅錶筆接電容負極，指標會向右擺動一下後又很快回到電阻值較大的刻度左側。容量越大，指標擺動幅度越大，如果指標擺動很小或者不擺動，說明電容器已失效，若擺動後回不到刻度最左端，即有一定電阻值，則存在漏電現象，須更換。

7、結型場效電晶體測試

將電阻表錶筆接在源極和漏極之間，應測得乙個100歐至10千歐的不變值。對調錶筆測得的阻值應與剛才相同，否則結型場效電晶體是壞的。

將電阻表錶筆接在柵極與漏極之間，對於n溝道結型場效電晶體，負錶筆接源極時，電阻讀數應該很小，對調錶筆，電阻讀數應該很大，幾乎是開路。對於p溝道結型場效電晶體，情況正好相反。

將電阻表筆接在源極和漏極之間，漏――柵或漏――源電阻應要麼很小，要麼很大，取決於電阻表筆的極性。

8、功率場效電晶體的監測

場效電晶體有源（s），柵(g)，漏(d)三極，用萬用表10k量程測量。

將萬用表紅錶筆接柵極，黑錶筆接源極一兩秒鐘，然後用紅錶筆接源極，黑錶筆接漏極，此時電阻表讀數應該很大，近似於無窮大。

將萬用表紅錶筆接源極，黑錶筆接柵極一兩秒鐘，然後用紅錶筆接源極，黑錶筆漏極，此時電阻表讀數應該很大，近似於無窮大。

將萬用表黑錶筆接柵極，紅錶筆接源極一兩秒鐘，然後測量ds間正反相電阻，此時電阻表讀數應該很小，近似於開路。

若測試結果與上述不符，則表示該場效電晶體已損壞。