品質可靠性測試標準

2022-09-01 01:48:06 字數 4499 閱讀 7832

目錄1 目的2

2 執行原則3

3 適用範圍3

4 主要職責3

5 可靠性測試程式3

5.1 環境測試3

5.2 靜電測試3

5.3 結構耐久測試3

5.4 表面裝飾塗層測試3

5.5 元器件可靠性測試3

5.6 安全器件測試3

1 目的

1.1 在特定的可接受的環境下不斷的催化產品的壽命和疲勞度,評估產品的質量和可靠性;

1.2 規範可靠性試驗作業方法。

1.3 作為品質對產品放行的指導標準

2 執行原則

產品可靠性試驗程式及判斷標準,嚴格遵守此程式。

3 適用範圍

適用於品質對產品的出貨標準。

5 可靠性測試程式

5.1環境測試

樣機標準數量:16臺

試驗週期: 10天

測試目的: 通過連續的施加各種測試條件,加速產品的失效,提前暴露潛在問題。

試驗流程: 見下圖,其中完成環測後和跌落測試的時間間隔應不超過4小時。

a:產品平均失效壽命測試組合:

樣機數量: 16臺

5.1.1功能外觀檢查

測試目的:測試預檢查

測試方法:oqc功能外觀檢驗標準進行檢查

測試標準:符合《成品檢驗指導書》中所有的指標。

5.1.2射頻測量

測試目的:測試預檢查

測試方法:使用 8960/cmu200 測試儀,參照《射頻測試記錄表》中專案列表,對所有樣品進行引數指標**試並儲存測試結果

測試標準:《射頻指標記錄表》中所有引數指標正常。

5.1.3 跌落試驗

測試條件: 6cm厚水泥地板,2.4寸及以下lcd 跌落高度為1.

2m;2.6-2.8寸lcd為1m;3.

0-3.4寸lcd跌落高度為0.8m.

3.5寸及以上lcd跌0.5m。

測試目的:跌落衝擊試驗

樣機數量: 16臺

試驗方法:將手機處於開機狀態進行跌落。進行6個面的自由跌落實驗,每個面的跌落次數為1次,每個面跌落之後進行外觀、結構和功能檢查。

對於翻蓋手機,其中一半樣品開啟翻蓋跌正面和背面(即跌8個面);對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置,跌正面和背面(即跌8個面)。跌落結束後對外觀、結構和功能進行檢查。

檢驗標準:手機外觀,結構和功能符合要求。每跌完乙個面進行拔號,應無掉網、關機等不良現象;撥打測試完成後,對每個手機進行快速檢測包括活動部件,按鍵功能,顯示功能,觸控螢幕功能及靈敏度,拍照功能,spk聽筒聲音應無異常。

間隙張開,其它部件鬆脫後不借用其它工具用手可以復原的可接受,受力點有水泥沙大小的凹陷、掉塗層、劃傷可接受。但塗層不允許有片狀脫落、龜裂,掉電及掉sim卡以微跌為準。掉電池蓋不作為不合格項,以手感拆裝為準。

5.1.4溫度衝擊測試

測試環境:低溫箱:-40℃ ;高溫箱:+80℃

樣機數量:16臺

測試目的:通過高低溫衝擊進行樣品應力篩選

試驗方法:使用高低溫衝擊箱,手機帶電池,設定成關機狀態先放置於高溫箱內持續

30分鐘後,在 15 秒內迅速移入低溫箱並持續 30 分鐘後,再 15 秒內迅速回到高溫箱為乙個迴圈,共迴圈 24 次。實驗結束後將樣機從溫度衝擊箱(高溫箱)中取出,恢復 2 小時後進行外觀、機械和電效能檢查。對於翻蓋手機,應將一半樣品開啟翻蓋;對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

試驗標準:手機電效能指標滿足要求,活動部件正常,殼件無形變,無龜裂,變色,無氧化,麻點,脫層,縫隙斷差變大(斷差和間隙在0.1mm以下可接受),裝飾片及鏡片起翹不均勻。

iml材料高溫儲存溫度為60℃作為允收標準。

5.1.5高溫高濕引數測試

測試環境:+60℃,93%rh

測試目的:高溫高濕應用效能測試

試驗方法:將手機電池充滿電,手機處於開機狀態,放入溫度實驗箱內的架子上。持續48h,在此環境下進行電效能檢查。

對於翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品開啟翻蓋;對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

檢驗標準:手機電效能引數指標滿足要求,時鐘精準,儲存資訊無丟失,撥打過程中有無掉網、關機等不良現象;撥打測試完成後,對每個手機進行快速檢測包括活動部件,按鍵功能,顯示功能,觸控螢幕功能及靈敏度,拍照功能,spk聽筒聲音,鏡片和lcd內部、touch lens內部無水印,水珠,功能正常,外殼無變形。

b:環境測試

樣機數量: 10臺

5.1.6低溫引數測試

測試環境:-20℃

測試目的:高溫/低溫應用效能測試

試驗方法:將手機電池充滿電,手機處於開機狀態,放入溫度實驗箱內的架子上,調節溫度控制器到-20℃ 持續4個小時,在此環境下進行電效能引數和功能檢查。對於翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品開啟翻蓋;對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

檢驗標準:手機電效能引數指標滿足要求,時鐘精準,儲存資訊無丟失,撥打過程中有無掉網、關機等不良現象;撥打測試完成後,對每個手機進行快速檢測包括活動部件,按鍵功能,顯示功能,觸控螢幕功能及靈敏度,拍照功能,spk聽筒聲音變小,功能正常,外殼無變形。

5.1.7高溫/低溫儲存

測試環境:-40℃ /+80℃

測試目的:高溫/低溫應用性功能測試

試驗方法:將手機處於關機狀態,放入溫度實驗箱內的架子上。持續48個小時之後,恢復至常溫,然後進行結構,功能和電效能檢查。

對於翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品開啟翻蓋;對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

檢驗標準:手機電效能指標滿足要求,活動部件正常,殼件無形變,無龜裂,變色,無氧化,麻點,脫層,縫隙斷差變大(間隙斷差<0.1mm可接受),裝飾片及鏡片無起翹不均勻。

iml材料高溫儲存溫度為60℃作為允收標準。

5.1.8濕熱迴圈測試

測試環境:+40℃,93%rh ;-10℃

測試目的:高濕低溫迴圈應用效能測試

試驗方法:溫度控制器設到+40℃,93%rh持續1個小時之後,以1小時的速率變化到-10℃持續1小時後,以1小時的速度變化到+40℃,93%rh。迴圈13次。

在此環境下進行電效能引數和功能檢查。對於翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品開啟翻蓋;對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到上限位置。

檢驗標準:手機電效能引數指標滿足要求,時鐘精準,儲存資訊無丟失,撥打過程中有無掉網、關機等不良現象;撥打測試完成後,對每個手機進行快速檢測包括活動部件,按鍵功能,顯示功能,觸控螢幕功能及靈敏度,拍照功能,spk聽筒聲音,鏡片和lcd內部、touch lens內部無水印,水珠,功能正常,外殼無變形。

5.1.9灰塵測試

測試環境:室溫

測試目的:測試樣機結構密閉性

樣機數量: 2臺

試驗方法:將手機關機後放入灰塵實驗箱內。其體積綜合不得超過試驗箱的有效空間的1/3,底面積不超過有效水平面積的 1/2,試驗樣品與試驗箱內壁距離應不小於 100mm。

試驗箱內的氣流速度應能保證試驗用灰塵均勻緩慢降在試驗樣品上 ,風速最大不超過 2m/s。持續 8 個小時之後,將手機從實驗箱中取出,用布和離子風槍清潔後進行檢查。對於翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品開啟翻蓋; 對於滑蓋手機,應將一半樣品滑開到限位置。

試驗標準:手機各項功能正常,所有活動元器件運**如,每個按鍵按10次不能有int,聲音正常,顯示區域沒有明顯灰塵(距離≥2.5cm,點≤0.15mm,數量≤3個的灰塵數可接)。

5.1.10鹽霧測試

測試環境:35℃ 5%nacl

測試目的:測試樣機抗鹽霧腐蝕能力

樣機數量: 2臺

試驗方法: 用氯化鈉含量為5±1%的鹽溶液,ph值為6.5~7.

2。允許用稀釋後的化學純鹽酸或氫氧化鈉調整ph值。試驗有效空間溫度為35°c;連續噴霧的試驗時間為24h;持續期滿後在箱內恢復到正常大氣條件,穩定後保持2h,檢查。

檢驗標準:外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕,(脫層,氧化<5%可接受,麻點≥2.5cm,點≤0.15mm,數量≤3個可接受)等異常現象。

5.1.11淋雨測試(無儀器暫時可不作要求)

測試環境:室溫(20~25℃);

樣機數量: 2臺

測試目的:整機抗雨淋能力

試驗方法: 手機關機狀態下,正面朝上平放在轉動平台上,以1分/轉的速度通過25mm噴雨矩陣,持續10分鐘。

檢驗標準: 用乾抹布將雨水擦拭乾淨後開機,檢查手機所有功能應正常

7.2 靜電測試

7.2.1 靜電測試

測試條件:+/-6kv;+/-10kv

測試目的: 測試樣機抗靜電干擾效能

樣機數量: 8臺

試驗方法: 將樣機設定為開機狀態,檢查樣機記憶體和功能(記憶體10條簡訊息和10個**號碼;使用功能正常)。將樣機放於靜電測試台的絕緣墊上,分兩種狀態:

加充電器和不加充電器(樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英吋)。 開啟靜電模擬器,調節放電方式,分別選擇+/-6kv(接觸放電),+/-10kv(空氣放電), 對手機指定部位連續放電10次,並對地放電。每做完乙個部位的測試,檢查手機功能,並觀察手機在測試過程中有無宕機,通訊鏈路中斷,lcd顯示異常,自動關機及其他異常現象。

樣機需在與8960/cmu200測試儀起或10086建立呼叫連線的狀態與及其它訊號聯接(電視,收音),*****狀態下進行各個放電方式、級別和極性的測試。

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