一、 填空題
1. 積體電路測試的目的是檢查電路設計和的正確與否2. 檢查電路實際的測試響應與理想的測試響應是否一致的過程叫做_______
3. 邏輯模擬可以分為編譯模擬和_________4. 確定性測試生成是採用_______自動生成測試圖形的方法5. 可測性分析包含可控性和兩層含義
6. reed-muller提出任何乙個組合邏輯均可用來實現7. 掃瞄路徑法是一種應用較廣的可測性設計方法8.
ieee1149.1是積體電路測試的標準9. 隨機測試的主要特徵是把位獨立的________加到被測電路的輸入上
p1500是關於________測試的乙個標準二、 判斷題
1. 模擬積體電路測試方法很完備
2. 內建自測試的測試激勵由外部電路提供
3. 邏輯冗餘導致故障覆蓋率低甚至不可測問題4. 掃瞄路徑法對時序電路的測試非常有效
5. 測試響應壓縮資料不存在資料的損失
6. 電壓測試對於cmos工藝中的固定型故障完全有效7. iddq測試可以代替功能測試
8. 嵌入式儲存器採用內建自測試比較有效
9. 儲存器冗餘和修復有利於儲存器測試
主要測試超大規模數字積體電路
三、 名詞解釋和
四、簡答題
1. 生產測試 1.測試的基本分類2. 特性測試 2.測試效率
3. 電路失效 3.可測性設計
4. 路徑敏化 4.故障模擬
四、 綜合題
1.驗證和生產測試的異同
2.積體電路物理缺陷的失效機理
五、 設計題
1.採用異或法推導出無故障電路的測試激勵向量，並畫出電路圖（其中為一組輸入變數，為一組輸入變數，為一組輸入變數）
電路原理複習題
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計算機系統結構複習題
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