正如電放大器那樣，光放大器在放大光訊號的同時也要引入雜訊。它由光子的自發幅射（spontaneous emission）產生。此種雜訊和光訊號在光放大器中一起放大，並逐級積累形成干擾訊號，即熟知的放大自發輻射（amplified spontaneous emission，簡寫為ase）干擾訊號。
這種ase干擾訊號經多經光放積累的功率會大到1-2mw，其頻譜分布與波長增益譜對應。 這就是為什麼經過若干個ola放大後必須經過光電變換，分別取出各波長光路的電訊號進行定時、整形與再生（3r），完成光數字訊號處理的主要原因，它決定了電中繼段或復用段的最大距離或最大光中繼段數。當然，其他因素例如允許的總的色散值也決定此電中繼段的最大距離，這要由系統設計作光功率預算時，哪個因素要求最嚴格來確定。
2 dwdm系統的測試要求
以sdh終端裝置為基礎的多波長密集光波分復用系統和單波長sdh系統的測試要求差別很大。首先，單波長光通訊系統的精確波長測試是不重要的，只需用普通的光功率計測量了光功率值就可判斷光系統是否正常了。設定光功率計到乙個特定的波長值，例如是1310nm還是1550nm，僅用作不同波長區光系統光源發光功率測試的較準與修正，因為對寬光譜的功率計而言，光源波長差幾十nm時測出的光功率值的差別也不大。
可是，對dwdm系統就完全不同了，系統有很多波長，很多光路，要分別測出系統中每個光路的波長值與光功率大小，才能共發判斷出是哪個波長，哪個光路系統出了問題。由於各個光路的波長間隔通常是1.6nm（200ghz）、0.
8nm（ghz），甚至0.4nm（50ghz），故必須有波長選擇性的光功率計，即波長計或光譜分析儀才能測出系統的各個光路的波長值和光功率的大小，因此，用一般的光功率計測出系統的總光功率值是不解決問題。其次，為了平滑地增加波長、擴大dwdm系統容量，或為了靈活地排程、調整電路和網路的容量，需要減少某個dwdm系統的波長數，即要求dwdm系統在增加或減少波長數時，總的輸出光功率基本穩定。
這樣，當有某個光路、某個淨負荷載體，即光波長或光載頻失效時，又用普通光功率計測量總光功率值是無法發現問題的，因為一兩個光載頻功率大大降低或失效，對總的光功率值影響很小。此時，必須對各個光載頻的功率進行選擇性測量，不僅測出光功率電平值，而且還準確地測出具體的波長數值後，才能確切知道是哪個波長哪條光路出了問題。這不僅在判斷光路故障時非常必要，而且在系統安裝、調測和日常維護時也很重要。
此外，為了測量光放大器增益光譜特性，尤其是增益平坦度，需找出各波長或各光路的功率電平差值時，也必須測量出各光路的波長值和光功率值。
為便於查尋光線路放大器的故障，除測量各個光路的波長值和光功率外，還要測量出各個光路的訊雜比（osnr）。這裡，在測量osnr時要注意測量儀表的雜訊頻寬。例如用hp70952b光譜分析儀（雜訊頻寬1nm）測量的osnr要比用agilent 86121a wdm光路分析儀（雜訊頻寬0.
1nm）測量出的osnr低約10db；這是因為前者取出的雜訊功率是後者取出的雜訊功率的10倍，自然，前者測出的osnr要低約10db（因光訊號功率測量有差別）。