1、目的
規範卡尺校準操作，確保卡尺準確性和適用性保持完好。
2、適用範圍
適用於本公司所有卡尺(線卡、表卡、數顯卡尺)的校準。
3、內容：
3.1主要校準標準器具：
外校合格標準量塊、外校合格大理石平台、外校合格標準千分尺。
3.2校準環境條件：
溫度：20°±3°，相對濕度55%±10%
3.3校準週期：
六個月（180天）。
3.4校準步驟：
3.4.1外觀檢查
檢查卡尺測量接觸面是否平整、乾淨、無汙漬、鏽跡、指標式卡尺表頭的指標是否完好，有無鬆動，刻度、數字是否清晰或其他影響使用效能的缺陷，兩個量爪不得有明顯錯位。
3.4.2各部分相互作用
尺框相對於尺身移動應平穩，不應有阻滯鬆動現象，深度測量桿不允許有竄動，緊固螺釘的作用應可靠。
3.4.3示值檢定及誤差標準：
●可根據不同量程的卡尺選用不同的基準量塊進行校準。
3.4.3.
1調校零位或指標對準零點，用外校合格標準量塊（量塊被測量面要乾淨）校準受檢點的分布，對於尺寸範圍在300mm以內的卡尺應不少於均勻分布3點，對於尺寸範圍大於300mm的卡尺，不少於均勻分布5點。連續測量尖部與根部各三次後讀數，如尖部與根部的值相等便各取其平均值記錄在《計量儀器內部校準報告》內；如尖部與根部的值不等時分別取其平均值記錄在《計量儀器內部校準報告》內。
3.4.3.
2刀口內量爪接觸面磨損程度校準是取校正合格的千分尺，夾緊一塊10mm外校合格的標準量塊，鎖定外校合格的標準千分尺，然後取下外校合格的標準量塊，將卡尺內量爪張開分別用尖部與根部靠緊兩接觸外校合格的標準千分尺面測量三次後再讀數，如尖部與根部的值相等便取平均值記錄在《計量儀器內部校準報告》內；如不等時分別取其平均值記錄在《計量儀器內部校準報告》內。
3.4.3.3帶深度尺的卡尺，用兩個20mm的量塊放在外校合格大理石平台上校準。
3.4.3.4校準結果處理：
每次測量值與標準值之差均在允許誤差範圍內,判此項校準合格，將所有校準結果與下表規定比較，符合標準的卡尺貼上合格標籤；不符合標準的卡尺需調整重校或維修。
unit:mm
3.4.4 清理工作檯面，填寫校準報告及相關記錄。
3.5 備註：(參考點)
3.5.1量程在0～150mm卡尺尺寸校準標準尺寸分別為：25mm，75mm，125mm。
3.5.2量程在0～200mm卡尺尺寸校準標準尺寸分別為：50mm，100mm，150mm。
3.5.3量程在0～300mm卡尺尺寸校準標準尺寸分別為：50mm，125mm，250mm。
3.5.4量程在0～450mm、0～500mm、0～600mm卡尺尺寸校準標準尺寸分別為：75mm，150mm，200mm，300mm，450mm。
4.1《計量儀器內部校準報告》
高度卡尺校準作業指導書
1 適用範圍 本程式適用於公司高度卡尺的校準。2 依據 jjg31 1999 高度卡尺檢定規程 3 裝置 四等量塊 1級平板 4 技術要求 4.1外觀 4.1.1高度卡尺表面應鍍層均勻，標尺標記應清晰，表蒙透明清潔，不應有鏽蝕，碰傷，毛刺，鍍層脫落及明顯劃痕，無目力可見的斷線或粗細不勻等以及影響外觀...
通用卡尺校準作業指導書
1 適用範圍 本程式適用於公司通用卡尺的校準。2 依據 jjg30 2002 通用卡尺檢定規程 3 裝置 四等量塊 1級平板 4 技術要求 4.1外觀 4.1.1卡尺表面應鍍層均勻，標尺標記應清晰，表蒙透明清潔，不應有鏽蝕，碰傷，毛刺，鍍層脫落及明顯劃痕，無目力可見的斷線或粗細不勻等以及影響外觀質量...
數顯高度卡尺校準作業指導書
1 適用範圍 本程式適用於公司數顯高度卡尺的校準。2 依據 jjg31 1999 高度卡尺檢定規程 3 裝置 四等量塊 1級平板 4 技術要求 4.1外觀 4.1.1高度卡尺表面應鍍層均勻，標尺標記應清晰，表蒙透明清潔，不應有鏽蝕，碰傷，毛刺，鍍層脫落及明顯劃痕，無目力可見的斷線或粗細不勻等以及影響...