EDX在分析測試時的注意事項

1.樣品的要求

1.1樣品的厚度

最小試樣厚度：

樣品大小：不小於1mm。

由於x射線不利於穿透金屬，所以金屬樣品只要厚度大於0.1mm就能保證分析厚度。（視不同樣品而定）塑膠樣品一般要求3~5mm，最好能使樣品和標樣有一致的大小、厚度、密度、光潔度。

1.2樣品的處理

x射線的穿透厚度根據元素和材料不同而不同，因此一些很薄的樣品不經過壓縮或特殊處理，直接測試沒有意義。

泡沫、蓬鬆棉、布料等，用鉗子等夾緊壓縮，再疊加厚度測試；

塑料氣泡包裝材料要疊加增加厚度，再將空氣出去測試；

電線等應分解為外皮、不同顏色絕緣皮、金屬遮蔽層和金屬線測試

顆粒樣品要堆積在樣品杯中測試

粉末樣品要使用樣品杯，並保證樣品在樣品杯中的厚度1mm以上，最好4mm。

1.3x射線螢光光譜法實際上是乙個表面分析方法，激發只發生在樣品的淺表面，必須注意分析面對整個樣品是否具有代表性。

例如：分析樣品表面塗層時，最好將塗層刮下單獨測試；分析金屬材料時，觀察金屬是否有鍍層，對較厚的鍍層，可以視鍍層為均勻材質分析，有懷疑時，除去鍍層分析基質。

2.資料分析

開啟資料，看資料是否有疑問，若有疑問，開啟譜圖，檢視目標元素的圖譜，標出目標元素的特徵譜線（請注意兩條線都標記上，如ka線和kβ線或者la線和lβ線），觀察元素主要特徵譜線上是否有峰，主要特徵譜線位置上方的實際峰強度是否大致成相應比例（如：ka線和kβ線比例大約為5:1或10:

1，la線和lβ線比例大約為1:1）。若峰高比不一致時，一般是存在干擾。

測試時特別是pb，最好都測試兩條線：pbla和pblβ線，一般pbla會受到aska和crkasum的影響，樣品如果含有較多的as和cr時，請注意。pblβ會受到br和fekasum的影響，當樣品含有較多br時，會將基線的背景抬高，造成誤判，鐵基樣品請注意觀察pbla線是否有峰。

下面附上edx分析rohs常見干擾，當對資料有懷疑時，請用icp或其他儀器進行確認。

tip：測試前可對樣品進行一次定性分析，這樣就可以知道樣品大概含有哪些元素，對照一下能量**這樣可以大致判斷一下會對那些元素造成干擾。