2023年法國人利用擴充套件白光源照明兩塊相隔一定距離（）的全同光柵並在無窮遠處觀察定域的彩色條紋，後被稱為雙光柵lau效應。若用擴充套件單色光源照明上述的兩光柵，則可觀察到週期性干涉條紋。利用雙光柵lau效應可用於測定透明物體折射率、透鏡焦距、光波長、溫度等物理量。
本實驗利用雙光柵lau效應通過測量望遠鏡物鏡的焦距。
一． 實驗目的
1. 熟悉雙光柵lau效應；
2. 測量透鏡焦距
二． 實驗裝置
鈉光燈（波長nm）、特製光柵（週期d=500m，占空比1：10）兩片、望遠鏡、測微目鏡、光柵夾、磁性表座
三． 實驗原理
圖1 實驗裝置示意圖
如圖1所示，當兩光柵的間距滿足：
1）式中為波長，為光柵常數，和是兩個互質的整數，可在無窮遠處觀察的定域的干涉，利用透鏡則在透鏡焦平面上觀察到清晰的干涉條紋，條紋強度分布為：
（2）式中3）
焦平面上干涉條紋的週期為：
4）式中為透鏡焦距(即為望遠鏡物鏡焦距)。通過測微目鏡直接測量焦平面上干涉條紋間距d，便可計算出焦距：
5）當、取1時，干涉條紋間距最大，易於測量。
四．實驗步驟
1. 利用自準直法，將光柵1與光柵2調整至高度平行狀態（實驗中可使用分光計的望遠鏡完成)，並調節光源的位置。
2. 調整光柵1，光柵2間的位置至在視野中可以觀察到等寬度、等強度亮紋的較清晰的干涉條紋。
3. 輕輕轉動光柵2平面，使光柵1和光柵2在平面平行的前提下，兩光柵的光柵刻線也處於高度平行狀態。此時可以發現條紋進一步變銳利。
4. 反覆進行步驟2，3若干次，至成像高度銳利且清晰。
5. 實驗者將光柵1固定，通過望遠鏡觀察干涉條紋，同時調整光柵2位置，直至成最銳利且清晰的等強度條紋時即紀錄光柵1和光柵2的位置，並測量干涉條紋的間距，反覆操作10次，記錄結果與**。
五. 參考文獻
1. sudol r.，thompson lau effect:
theory and experiment, applied optics,v.20, pp.1107-1116 (1981);
2. 張海聯，海濱，用楊氏干涉模型解釋lau效應，光學儀器，v.14，pp.16-19（1992）;
3. 王秋芬，利用雙光柵lau效應測量透鏡焦距，物理實驗，v.24，pp.13-15(2004)
編寫：林偉華）
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