新 電子元器件抗ESD技術講義 一

2022-10-17 07:09:04 字數 2976 閱讀 3402

引言 4

第1 章電子元器件抗esd損傷的基礎知識 5

1.1 靜電和靜電放電的定義和特點 5

1.2 對靜電認識的發展歷史 6

1.3 靜電的產生 6

1.3.1 摩擦產生靜電 7

1.3.2 感應產生靜電 8

1.3.3 靜電荷 8

1.3.4 靜電勢 8

1.3.5 影響靜電產生和大小的因素 9

1.4 靜電的** 10

1.4.1 人體靜電 10

1.4.2 儀器和裝置的靜電 11

1.4.3 器件本身的靜電 11

1.4.4 其它靜電** 12

1.5 靜電放電的三種模式 12

1.5.1 帶電人體的放電模式(hbm) 12

1.5.2 帶電機器的放電模式(mm) 13

1.5.3 充電器件的放電模型 13

1.6 靜電放電失效 15

1.6.1 失效模式 15

1.6.2 失效機理 15

第2章製造過程的防靜電損傷技術 19

2.1 靜電防護的作用和意義 19

2.1.1 多數電子元器件是靜電敏感器件 19

2.1.2 靜電對電子行業造成的損失很大 20

2.1.3 國內外企業的狀況 22

2.2 靜電對電子產品的損害 23

2.2.1 靜電損害的形式 23

2.2.2 靜電損害的特點 23

2.2.3 可能產生靜電損害的製造過程 24

2.3 靜電防護的目的和總的原則 24

2.3.1 目的和原則 24

2.3.2 基本思路和技術途徑 25

2.4 靜電防護材料 26

2.4.1 與靜電防護材料有關的基本概念 26

2.4.2 靜電防護材料的主要引數 27

2.5 靜電防護器材 27

2.5.1 防靜電材料的製品 27

2.5.2 靜電消除器(消電器、電中和器或離子平衡器) 29

2.6 靜電防護的具體措施 31

2.6.1 建立靜電安全工作區 31

2.6.2 包裝、運送和儲存工程的防靜電措施 33

2.6.3 靜電檢測 33

2.6.4 靜電防護的管理工作 35

第3章抗靜電檢測及分析技術 37

3.1 抗靜電檢測的作用和意義 37

3.2 靜電放電的標準波形 37

3.3 抗esd檢測標準 39

3.3.1 電子元器件靜電放電靈敏度(esds)檢測及分類的常用標準 39

3.3.2 標準試驗方法的主要內容(以mil-std-883e 方法3015.7為例) 40

3.4 實際esd檢測的結果統計及分析 42

3.4.1 試驗條件 42

3.4.2 esd評價試驗結果分析 42

3.5 關於esd檢測中經常遇到的一些問題 43

3.6 esd損傷的失效定位分析技術 44

3.6.1 埠i-v特性檢測 44

3.6.2 光學顯微觀察 44

3.6.3 掃瞄電鏡分析 45

3.6.4 液晶分析 46

3.6.5 光輻射顯微分析技術 47

3.6.6 分層剝離技術 47

3.6.7 小結 48

3.7 esd和eos的判別方法討論 48

3.7.1 概念 48

3.7.2 esd和eos對器件損傷的分析判別方法 48

第4 章電子元器件抗esd設計技術 51

4.1 元器件抗esd設計基礎 51

4.1.1抗esd過電流熱失效設計基礎 51

4.1.2抗場感應esd失效設計基礎 52

4.2元器件基本抗esd保護電路 52

4.2.1基本抗靜電保護電路 52

4.2.2對抗靜電保護電路的基本要求 53

4.2.3 混合電路抗靜電保護電路的考慮 54

4.2.4防靜電保護元器件 54

4.3 cmos電路esd失效模式和機理 54

4.4 cmos電路esd可靠性設計策略 55

4.4.1 設計保護電路轉移esd大電流。 55

4.4.2 使輸入/輸出電晶體自身的esd閾值達到最大。 56

4.5 cmos電路基本esd保護電路的設計 56

4.5.1 基本esd保護電路單元 56

4.5.2 cmos電路基本esd保護電路 57

4.5.3 esd設計的輔助工具-tlp測試 58

4.5.4 cmos電路esd保護設計方法 60

4.5.5 cmos電路esd保護電路示例 61

4.6 工藝控制和管理 63

隨著電子元器件技術的發展,靜電對元器件應用造成的危害越來越明顯。

一方面,電子元器件不斷向輕、薄、短、小、高密度、多功能等方向發展,因而元器件的尺寸越來越小,尤其是微電子器件,coms ic中亞微公尺柵已進入實用化,柵條寬度達到0.18um,柵氧厚度為幾個nm或幾十個,柵氧的擊穿電壓小於20v。尺寸的減小,就使電子元器件對靜電變得更加敏感。

而大量新發展起來的特種器件如gaas 單片積體電路(mmic)、新型的奈米器件以及高頻聲表面波器件(saw)等多數也都是靜電敏感元器件;另一方面,在電子元器件製造和應用環境中,作為靜電主要**的各種高分子材料被廣泛採用,使得靜電的產生更加容易和廣泛。因此,必須應用各種抗靜電放電損傷的技術,使靜電對電子元器件的危害減小到最低的程度。

電子元器件的質量檢測技術正文

目錄1電子元器件檢測方法3 1 1電阻器的檢測方法與經驗3 1 1 1固定電阻器的檢測3 1 1 2水泥電阻的檢測3 1 1 3熔斷電阻器的檢測3 1 1 4電位器的檢測3 1 1 5正溫度係數熱敏電阻 ptc 的檢測 4 1 1 6負溫度係數熱敏電阻 ntc 的檢測 4 1 1 7壓敏電阻的檢測4...

電子元器件失效分析技術及經典案例

課程背景 電子產品在不斷與失效作鬥爭中不斷提高可靠性,失效分析是與產品失效作鬥爭的最有效的工具。失效分析是故障歸零的關鍵技術 產品故障歸零技術上要求 定位準確,機理清楚,故障再現,措施有效,舉一反三 顯然,失效分析實現 機理清楚 只有在失效機理的指引下才能確定正確的 故障再現 的應力,只有在機理的指...

第一章電子元器件常識

電子元器件是電子元件和器件的總稱。器件是指電子管和電晶體,現在泛指用半導體材料製造的基本電子產品,如 二極體 三極體 場效電晶體 積體電路等。其它製造電子整機用的基本零件稱為元件,如 電阻 電容 電感等等。由於新材料 新技術的不斷湧現,現代電子元件和器件的界限已比較模糊。在本章中將從電子元器件的名稱...