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簡介：要申請乙份專利，需要滿足條件：針對產品、方法或者改進所提出的新的技術方案。
申請內容編寫應該包括的內容：說明書、實用新型內容、實用新型內容附圖、權利要求書。其中，權利要求書即為需要保護的結構物件。
下面，我們以一款高溫介電測量系統改進後提出的新方案為例，來編寫專利申請書。
說明書技術領域
本實用新型涉及一種電學引數測量儀器（標註：儀器的應用領域範圍），尤其涉及一種功能陶瓷材料高溫介電測量裝置（具體的儀器或裝置的名稱）的改進。
技術背景
功能陶瓷是以電、磁、聲、光、熱和力學等資訊的轉換、耦合、儲存和檢測為主要特徵的介質材料，主要包括鐵電、壓電、介電、熱釋電和磁性等功能各異的新型陶瓷材料。它是電子資訊、積體電路、移動通訊和能源開發等現代高新技術領域的重要基礎材料。功能陶瓷及其新型電子元器件對資訊產業的發展和綜合國力的增強具有重要的戰略意義。
功能陶瓷的廣泛應用，迫切需要能夠在不同溫度（如室溫~1000℃）、頻率等條件下測定其效能的儀器裝置（這個地方引出你的裝置）。本實用新型能與多種電學測量儀表配合，在室溫~1000℃溫度區內，在20hz~120mhz的頻率範圍內和可控的條件下進行介電常數、介電損耗和其他物理量的精密測量（這個地方簡單介紹裝置的功能）。
實用新型內容
本實用新型提供了高溫介電測量儀器裝置，該裝置主要由主機、測量夾具、高溫爐、加熱製冷裝置、測量分析軟體（儀器的結構構成）組成，本專利主要描述高溫介電測量夾具（這是需要保護的點）的改進，主要技術特徵是測量夾具結構（如圖），該結構是由夾具的具體組成部分的機構名稱組成。其中這裡依次寫明裝置的連線結構和每個結構需要達到什麼功能。本實用新型保證這裡要強調改進後的裝置能達到什麼樣的效果，解決什麼樣的問題。
實用新型內容附圖
這裡需要新增一張具體的結構圖，每個部件都需要用序號標識出來。
權利要求書
1、一種高溫介電測量裝置，其特徵在於採用改進後的結構（如圖），該結構是由結構的主要組成部分（例如：上電極（1）、下電極（2）、、、結構名稱要標識和附圖對應的結構序號）組成。
2、如權利要求1的上電極（1），其特徵在於採用什麼特殊結構或處理包含：特殊結構或處理的更細化的組成結構。
3、如權利要求1的下電極（2），其特徵在於採用什麼特殊結構或處理包含：特殊結構或處理的更細化的組成結構。
……一直到把所有主要結構部分都詳細描述，權利要求書的內容，都是要求被保護的結構點。
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