實驗1.1
了解和掌握了光纖的結構、分類和特性引數，能夠快速準確的區分單模或者多模型別的光纖。
實驗1.2
1.關閉系統電源，將光跳線分別連線tx1550、rx1550兩法蘭介面（選擇工作波長為
1550nm的光通道），注意收集好器件的防塵帽。
2.開啟系統電源，液晶選單選擇「碼型變換實驗—cmi碼pn」。確認，即在p101鉚孔輸出32khz的15位m序列。
3.示波器測試p101鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4.用訊號連線線連線p101、p203兩鉚孔，示波器a通道測試tx1550測試點，確認有相應的波形輸出，調節 w205 即改變送入光發端機訊號（tx1550）幅度，最大不超過5v。即將m序列電訊號送入1550nm光發端機，並轉換成光訊號從tx1550法蘭介面輸出。
5.示波器b通道測試光收端機輸出電訊號的p204試點，看是否有與tx1550測試點一樣或類似的訊號波形。
6.按「返回」鍵，選擇「碼型變換實驗—cmi碼設定」並確認。改變sw101撥碼器設定（往上為1，往下為0），以同樣的方法測試，驗證p204和tx1550測試點波形是否跟著變化。
7.輕輕擰下tx1550或rx1550法蘭介面的光跳線，觀測p204測試點的示波器b通道是否還有訊號波形？重新接好，此時是否出現訊號波形。
8.以上實驗都是在同一臺實驗箱上自環測試，如果要求兩實驗箱間進行雙工通訊，如何設計連線關係，設計出實驗方案，並進行實驗。
9.關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
實驗2.1
1.關閉系統電源，按照圖2.1.
1將1550nm光發射端機的tx1550法蘭介面、fc-fc單模尾纖、光功率計連線好（tx1550通過尾纖接到光功率計），注意收集好器件的防塵帽。
2.開啟系統電源，液晶選單選擇「碼型變換實驗-- cmi碼設定」 確認，即在p101鉚孔輸出32khz的sw101撥碼器設定的8位元週期性序列，如10001000。
3.示波器測試p101鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4.用訊號連線線連線p101、p203兩鉚孔，示波器a通道測試tx1550測試點，確認有相應的波形輸出，調節w205即改變送入光發端機訊號（tx1550）幅度最大（不超過5v），記錄訊號電平值。即將撥碼器設定序列電訊號送入1550nm光發端機，並轉換成光訊號從 tx1550法蘭介面輸出。
5.調節光功率計工作波長「1550nm」、單位「dbm」，讀取此時光功率p，即為1550nm 光發射端機在正常工作情況下，對於撥碼器設定32k的***序列的平均光功率，記錄碼型和光功率
6.撥碼器設定其它序列組合，w205 保持不變，記錄碼型和對應的輸出光功率，得出你的結論。
7.按返回鍵，液晶選單選擇「碼型變換實驗—cmi碼pn」。確認，即在p101鉚孔輸出
32khz的15位m序列。以同樣的方法測試，記錄碼型、速率和平均光功率值。
8.改變w205值，以同樣的方法測試，記錄tx1550點訊號電平值和對應的輸出光功率，得出你的結論。
9.關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
實驗2.2
1.關閉系統電源，按照圖2.2.
1將1550nm光發射端機的tx1550法蘭介面、fc-fc單模尾纖、光功率計連線好（tx1550 法蘭輸出通過尾纖接到光功率計），注意收集好器件的防塵帽。
2.開啟系統電源，液晶選單選擇「碼型變換實驗-- cmi碼設定」 確認，即在p101鉚孔輸出32khz的sw101撥碼器設定的8位元週期性序列，如10001000。
3.示波器測試p101鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4.用訊號連線線連線p101、p203兩鉚孔，示波器a通道測試tx1550測試點，確認有相應的波形輸出，調節w205即改變送入光發端機訊號（tx1550）幅度最大（不超過5v），記錄訊號電平值。即將撥碼器設定序列電訊號送入1550nm光發端機，並轉換成光訊號從tx1550法蘭介面輸出。
5.調節光功率計工作波長「1550nm」、單位「mw」，設定撥碼器sw101為11111111，讀取此時光功率p1，即為1550nm光發射端機在正常工作情況下，對於全1碼的輸出光功率，記錄碼型和光功率。
6.撥碼器sw101設定為00000001（原因見「注」），w205保持不變，記錄碼型和對應的輸出光功率p0。
7.將p0、p1代入公式2.1.1，算出此數字光端機的消光比ext。
ext=-8.77
ext=-8.77
8.關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
實驗2.4
1．將光功率計與雷射器輸出tx1310法蘭相連。
2．電流錶（直流檔）插入tp202，tp203，正錶筆接tp202，負錶筆接tp203，將k02 跳線器拔掉。
3．加電後即可開始實驗。
4．要測出自動光功率控制（apc）的結果，需要將無apc和有apc進行比較。按照下表進行測試：
6．將所測資料填入上表，從上表看出，有apc時，接與不接k01，電流和功率變化較小，而無apc時，電流和功率變化比較大。所以，可以看出當雷射器輸出光功率突然變化時，apc 電路將自動調整其輸出功率，確保雷射器輸出功率穩定。上面實驗引數，驗證了apc電路對光功率突然變大的影響。
另外，也可驗證apc電路對光功率突然變小的影響，請實驗者自行設計實驗方案，寫出實驗步驟。
7．測試完畢後，關閉系統電源，拆除電流錶及光功率計，套好防塵帽，插好k01、k02 跳線器。
實驗3.1
（一）活動聯結器的插入損耗測量
1.關閉系統電源，按圖 3.1.2（a）將光發射端機（tx1550）、光跳線、光功率計連線好，注意收集好器件的防塵帽。
2.開啟系統電源，液晶選單選擇「光纖測量實驗—平均光髮功率」確認，即在 p103
（p108）鉚孔輸出1khz的31位m序列。
3.示波器測試p103（p108）鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4.用訊號連線線連線p103（p108）、p203兩鉚孔，示波器a通道測試tx1550測試點，確認有相應的波形輸出，調節w205即改變送入光發端機訊號（tx1550）幅度最大（不超過5v），記錄訊號電平值。即將1khz的31位m序列電訊號送入1550nm光發端機，並轉換成光訊號從tx1550法蘭介面輸出。
5.調節光功率計工作波長「1550nm」、單位「mw」，讀取此時光功率，即為1550nm光發射端機在正常工作情況下，對於31位m序列的平均光功率，記錄光功率p1。
6.將待測活動聯結器按圖3.1.2（b）串入其中。測得此時光功率p2。
7.代入公式3.1.1，計算活動聯結器的插入損耗（db）。
8.關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
（二）活動聯結器的回波損耗測量（該實驗測試效果不明顯，學生可不做，只需了解測試方法）
1.關閉系統電源，按圖3.1.3（a）將光發射端機（tx1550）、y型光分路器（1550nm）、光功率計連線好，注意收集好器件的防塵帽。
2.開啟系統電源，液晶選單選擇「光纖測量實驗—平均光髮功率」確認，即在 p103
（p108）鉚孔輸出1khz的31位m序列。
3.示波器測試p103（p108）鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4.用訊號連線線連線p103（p108）、p203兩鉚孔，示波器a通道測試tx1550測試點，確認有相應的波形輸出，調節w205即改變送入光發端機訊號（tx1550）幅度最大（不超過5v），記錄訊號電平值。即將1khz的31位m序列電訊號送入1550nm光發端機，並轉換成光訊號從tx1550法蘭介面輸出。
5.調節光功率計工作波長「1550nm」、單位「mw」，讀取此時光功率，即為1550nm光發射端機在正常工作情況下，對於31位m序列的平均光功率，記錄光功率p1。
6.將待測活動聯結器按圖3.1.3（b）串入其中。測得此時光功率p3。
7.代入公式3.1.2，計算活動聯結器的回波損耗（db）。
8.關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
實驗3.4
（一）光波分復用器1310nm光傳輸插入損耗和波長隔離度的測量
1．關閉系統電源，按照前面實驗中圖3.1.2（a）將1310nm光發射端機的tx1310法蘭介面、fc-fc單模尾纖、光功率計連線好，注意收集好器件的防塵帽。
2．開啟系統電源，液晶選單選擇「光纖測量實驗—平均光髮功率」確認，即在 p103
（p108）鉚孔輸出1khz的31位m序列。
3．示波器測試p103（p108）鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
4．用訊號連線線連線p103（p108）、p201兩鉚孔，示波器a通道測試tp201測試點，確認有相應的波形輸出，即將1khz的31位m序列電訊號送入1310nm光發端機，並轉換成光訊號從tx1310法蘭介面輸出。
5．調節光功率計工作波長「1310nm」、單位「mw」，讀取此時光功率，即為1310nm光發射端機在正常工作情況下，對於31位m序列的平均光功率，記錄光功率pa。
6．關閉系統電源，拆除各光器件並套好防塵帽。
（二）光波分復用器1550nm光傳輸插入損耗和波長隔離度的測量
1．關閉系統電源，按照前面實驗中圖3.1.2（a）將1550nm光發射端機的tx1550法蘭介面、fc-fc單模尾纖、光功率計連線好，注意收集好器件的防塵帽。
2．開啟系統電源，液晶選單選擇「光纖測量實驗—平均光髮功率」確認，即在 p103
（p108）鉚孔輸出1khz的31位m序列。
3．示波器測試p103（p108）鉚孔波形，確認有相應的波形輸出。
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