波紋曲線圖
指曲線有與脈衝頻率相似的紋狀態曲線。其產生原因有可能是受測光纖工作頻率與頻寬頻率剛好相同,此情況下, 改變測試脈寬，同時應從受測光纖的兩端進行測量.
1、 實際在測試中最常見的異常曲線、原理和對策
a、如圖
現象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認光纖長度
原因：光纖未端面上比較髒或光纖端麵質量差；
對策：清洗光纖未端麵或重新做端麵；
b、如圖
現象：曲線成明顯弓形，衰減嚴重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰；
原因：量程設定錯誤（不足被測光纖長度2倍以上）；
對策：增大量程；
a、 如圖
現象：在曲線斜率恆定的曲線中間有乙個「小山峰」（背向散射劇烈增強所致）
原因：1）光纖本身質量原因（小裂紋）；
2）二次反射餘波在前端面產生反射；
對策：在這種情況下改變光纖測試量程、脈寬、重新做端麵，再測試如「小山峰」消失則為原因2），如不消失則為原因1）；
b、 如圖
現象：在光纖纖聯結器、耦合器、熔接點處產生乙個明顯的增益；
原因：模場直徑不匹配造成的；
對策：測試衰減和接頭損耗必須雙向測試，取平均值；
e、如圖
現象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減係數相差很大
原因：模場不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結尾部分；
對策：測試衰減必須雙向測試，取平均值；
f、如圖
現象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷
原因：未端幾公尺或幾十公尺光纖受側壓；
對策：復繞觀察有無變化，無變化則剪掉；
g、如圖
現象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變，衰減指標略微偏高；但1550nm光纖衰減斜率增加，衰減指標偏高；
原因：束管內餘長過短，光纖受拉伸；
對策：確認束管內的餘長，增加束管內的餘長；
h、如圖
現象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本正常，衰減指標正常；但1550nm光纖衰減斜率嚴重不良，衰減指標嚴重偏高；
原因：束管內餘長過長，光纖彎曲半徑過小；
對策：確認束管內的餘長，減少束管內的餘長；
i、如圖
現象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現有規則的曲線不良，但被測光纖後半部分曲線正常，整根被測光纖衰減指標基本正常；
原因：一般是由裝置本身和測試方法綜合造成的；
對策：關機，重新起動，對各個光纖接觸部分進行清潔；
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