IGBT的基本結構,引數選擇,使用注意

2021-03-03 20:40:29 字數 2808 閱讀 4902

一、 igbt簡介

igbt中文名字為絕緣柵雙極型電晶體,它是由mosfet(輸入級)和pnp晶體(輸出級)復合而成的一種器件,既有mosfet器件驅動功率小和開關速度快的特點(控制和響應),又有雙極型器件飽和壓降低而容量大的特點(功率級較為耐用),頻率特性介於mosfet與功率電晶體之間,可正常工作於幾十khz頻率範圍內。

圖1 理想等效電路與實際等效電路圖

二、igbt的基本結構

絕緣柵雙極電晶體(igbt)本質上是乙個場效應電晶體,只是在漏極和漏區之間多了乙個 p 型層。根據國際電工委員會的檔案建議,其各部分名稱基本沿用場效應電晶體的相應命名。

圖2 n溝道增強型絕緣柵雙極電晶體結構

圖2所示為乙個n 溝道增強型絕緣柵雙極電晶體結構,n+區稱為源區,附於其上的電極稱為源極。 n+ 區稱為漏區。器件的控制區為柵區,附於其上的電極稱為柵極。

溝道在緊靠柵區邊界形成。在漏、源之間的p型區(包括p+和p一區)(溝道在該區域形成),稱為亞溝道區(subchannel region )。而在漏區另一側的 p+ 區稱為漏注入區(drain injector ),它是 igbt 特有的功能區,與漏區和亞溝道區一起形成 pnp 雙極電晶體,起發射極的作用,向漏極注入空穴,進行導電調製,以降低器件的通態電壓。

附於漏注入區上的電極稱為漏極。

為了兼顧長期以來人們的習慣,iec規定:源極引出的電極端子(含電極端)稱為發射極端(子),漏極引出的電極端(子)稱為集電極端(子)。這又回到雙極電晶體的術語了。但僅此而已。

圖3 igbt結構剖面圖

igbt的結構剖面圖如圖3所示。它在結構上類似於mosfet ,其不同點在於igbt是在n溝道功率mosfet 的n+基板(漏極)上增加了乙個p+ 基板(igbt 的集電極),形成pn結j1 ,並由此引出漏極、柵極和源極則完全與mosfet相似。

圖4 igbt的簡化等效電路

圖5 n溝道igbt圖形符號

圖6 p溝道igbt圖形符號

由圖3可以看出,igbt相當於乙個由mosfet驅動的厚基區gtr ,其簡化等效電路如圖4所示。圖中rdr是厚基區gtr的擴充套件電阻。igbt是以gtr 為主導件、mosfet 為驅動件的復合結構。

n溝道igbt的圖形符號有兩種,如圖5所示。實際應用時,常使用圖5-5所示的符號。對於p溝道,圖形符號中的箭頭方向恰好相反,如圖6所示。

igbt的開通和關斷是由柵極電壓來控制的。當柵極加正電壓時,mosfet內形成溝道,並為pnp電晶體提供基極電流,從而使igbt導通,此時,從p+區注到n-區進行電導調製,減少n-區的電阻rdr值,使高耐壓的igbt也具有低的通態壓降。在柵極上加負電壓時,mosfet內的溝道消失,pnp電晶體的基極電流被切斷,igbt即關斷。

正是由於igbt是在n溝道mosfet的n+基板上加一層p+基板,形成了四層結構,由pnp-npn電晶體構成igbt。但是,npn電晶體和發射極由於鋁電極短路,設計時盡可能使npn不起作用。所以說,igbt的基本工作與npn電晶體無關,可以認為是將n溝道mosfet作為輸入極,pnp電晶體作為輸出極的單向達林頓管。

採取這樣的結構可在n-層作電導率調製,提高電流密度。這是因為從p+基板經過n+層向高電阻的n-層注入少量載流子的結果。igbt的設計是通過pnp-npn電晶體的連線形成閘流體。

二、igbt模組的術語及其特性術語說明

三、igbt模組使用上的注意事項

1.igbt模組的選定

在使用igbt模組的場合,選擇何種電壓,電流規格的igbt模組,需要做周密的考慮。

a.電流規格

igbt模組的集電極電流增大時,vce(-)上公升,所產生的額定損耗亦變大。同時,開關損耗增大,原件發熱加劇。因此,根據額定損耗,開關損耗所產生的熱量,控制器件結溫(tj)在150oc以下(通常為安全起見,以125oc以下為宜),請使用這時的集電流以下為宜。

特別是用作高頻開關時,由於開關損耗增大,發熱也加劇,需十分注意。

一般來說,要將集電極電流的最大值控制在直流額定電流以下使用,從經濟角度這是值得推薦的。

b.電壓規格

igbt模組的電壓規格與所使用裝置的輸入電源即市電電源電壓緊密相關。其相互關係列於表1。根據使用目的,並參考本表,請選擇相應的元件。

2.防止靜電

igbt的vge的耐壓值為±20v,在igbt模組上加出了超出耐壓值的電壓的場合,由於會導致損壞的危險,因而在柵極-發射極之間不能超出耐壓值的電壓,這點請注意。

在使用裝置的場合,當柵極迴路不合適或者柵極迴路完全不能工作時(柵極處於開路狀態),若在主回路上加上電壓,則igbt就會損壞,為防止這類損壞情況發生,應在柵極―發射極之間接乙隻10kω左右的電阻為宜。

此外,由於igbt模組為mos結構,對於靜電就要十分注意。因此,請注意下面幾點:

1)在使用模組時,手持分裝件時,請勿觸控驅動端子部分。

2)在用導電材料連線驅動端子的模組時,在配線未佈好之前,請先不要接上模組。

3)盡量在底板良好接地的情況下操作。

4)當必須要觸控模組端子時,要先將人體或衣服上的靜電放電後,再觸控。

5)在焊接作業時,焊機與焊槽之間的漏洩容易引起靜電壓的產生,為了防止靜電的產生,必須將焊機處於良好的接地狀態下。

6)裝部件的容器,請採用防靜電措施。

3.併聯問題

在大容量逆變器等控制大電流的場合使用igbt模組時,可以使用多個器件併聯。

併聯時,要使每個器件流過均等的電流是非常重要的,如果一旦電流平衡達到破壞,那麼電流過於集中的那個器件將可能被損壞。為使併聯時電流能平衡,適當改變器件的特性及接線方法。例如。

挑選器件的vce(sat)相同的併聯是很重要的。

4.其他注意事項

1)儲存半導體原件的場所的溫濕度:應保持在常溫常濕狀態,不應偏離太大。常溫的規定為5-35℃,常濕的規定為45—75%左右。

2)開、關時的浪湧電壓等的測定,請在端子處測定。

IGBT模組的材料引數

目前,功率器件和模組均採用引線鍵合的互連工藝和平面封裝結構。圖1為普通igbt模組的解剖圖。圖1 igbt模組結構示意圖 從上圖本文可以看出,igbt模組共由7層結構構成,大致可以分成三部分 晶元,dbc和基板。每部分之間由焊錫連線而成。本文知道igbt是在閘流體的基礎上發展而來,但與傳統的閘流體相...

SATWE計算控制引數的選擇方法

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選擇結構的控制結構

1 簡單判斷 if 條件表示式 語句序列 endif 2 選擇分支 if 條件表示式 語句序列1 else 語句序列2 endif 3 多條件選擇 do case case 條件表示式1 語句序列1 case 條件表示式2 語句序列2 case 條件表示式n 語句序列n otherwise 語句序列...