超細粉體顆粒細度檢測方法

2023-02-09 13:57:04 字數 1709 閱讀 5682

超細粉體的細度和形狀直接影響粉體的質量用途,在100目內的物料檢測較好檢測,超過100目的物料檢測肉眼無法鑑別,這時就需要裝置或者是專業的儀器來檢測了。,顆粒測量在細粒特性方面也很重要,在選礦、超細粉體生產、催化劑、造紙、油漆、顏料和精細化工等工業中,顆粒測量又是過程控制和描述產品特性應用最廣的技術之一,因此對粉體顆粒粒度和形狀測量日益受到人們重視。今天河南三星機械給大家總結了物料細度顆粒檢測方法彙總。

粉體顆粒檢測方法分類:現有的測量方法很多,有直接測量法、間接測量法。直接測量是根據顆粒的幾何尺寸進行的(篩分法和顯微鏡法),間接測量是先確定與顆粒尺寸有關的性質引數,然後用理論或經驗公式計算粒徑大小(沉積法等)。

分類測量方法

基本原理

測量範圍

(μm)

特點篩分法

絲網篩用一定大小的篩子,將被測試樣分成兩部分,留在篩上面的粒徑較粗的不通過量(篩餘量)和通過篩孔粒徑較細的通過量(篩過量)。

37~4000電鑄篩

5~120沉降法

移液管法

根據stokes沉降原理,分散在沉降介質中的樣品顆粒,其沉降速度是顆粒大小的函式,利用移液管測定出液體濃度變化,可計算出顆粒大小和粒度分布。儀器便宜,方法簡單,測定所需時間長,分析計算工作量大。比重計法

利用比重計在一定位置所示懸濁液比重隨時間變化測定粒度分布

1~100

儀器便宜,方法簡單,測定工作量大。    濁度法

利用光透法或x射線透過法測定液體因濃度變化而引起的濁度變化,從而測定樣品的粒度和粒度分布。

0.1~100

自動測定,資料不需處理便可得到分布曲線,可用於**粒度分析。天平法

通過測定已沉積下來的顆粒累積重量,測定樣品的粒度和粒度分布。

0.1~150

自動測定和自動記錄,儀器較貴,測定小顆粒誤差較大。離心

沉降法在離心力場中,顆粒沉降也服從stokes定律,利用圓盤離心機使顆粒快速沉降並測出其濃度變化,從而得出料度大小和分布。

0.01~30

bt3000a

(0.04~45)

測定速度快,可測亞微公尺級顆粒,應用較廣泛。結果受環境和人為影響較大,重複性性較差。電感應法

庫爾特計數器

懸浮在電解液中顆粒,通過一小孔時,由於排出了一部分電解液而使體電阻發生變化,導致小孔兩側電壓發生變化,其變化規律是顆粒大小的函式。

0.4~200

解析度高,重複性好,操作較簡便。

易堵孔,動態範圍小,不宜測量分布範圍較寬的樣品。光散射法

雷射粒度分布儀

當分散在液體中的顆粒受到雷射照射時,會產生光的衍射和散射現象,而且顆粒越小散射角越大,通過透鏡後在焦平面上形成與顆粒大小和多少有關的光環,用光電接收器接收到此訊號便可計算出有關資料。

0.05~2000

自動化程度高,動態範圍大,測量速度快,操作簡便,重複性好,可用於**粒度測量。顯微鏡法

光學顯微鏡

把樣品分散在一定分散液中制取樣片,測其顆粒影像,將所測得的顆粒按大小分級,便可求出以顆粒個數為基準的粒度分布。

1~100

直觀性好,可觀察顆粒形狀,但分析的準確性有時受操作人員主觀因素影響,不能自動進行測量和計算。電子

顯微鏡與光學顯微鏡方法相似,用電子束代替光源,用磁鐵代替玻璃透鏡,顆粒用顯微**顯示出來。

掃瞄電鏡

0.005~50

透射電鏡

0.001~10

測定亞微公尺及奈米級顆粒粒度分布和形狀的基本方法,廣泛用於科學研究,儀器貴重,需專人操作。

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