一、高溫老化試驗範圍：
本規範規定了半成品、產品及主要功能模組的高溫老化過程及操作規則。適用於需進行高溫老化的產品。
二、高溫老化篩選目的：
為提高產品可靠度,消除加工應力和殘餘溶劑等物質，模擬嚴酷工作環境，以鑑別和剔除產品工藝
和元件引起的早期故障，確保整機優秀品質和期望壽命，進入高可靠的穩定期。
三、高溫老化試驗基本要求：
3.1 高溫老化篩選物件
3.1.1 進行老化試驗的產品應是裝配調測合格品；
3.1.2 公司半成品、產品及主要功能模組。
3.2 模擬狀態要求
3.2.1 為保證產品的效能穩定可靠，老化時應模擬產品工作狀態；
3.2.2 當老化的產品需輸入訊號時，應在額定輸出功率狀態下進行，同時做好散熱措施。
3.2.3 對於射頻裝置應：
a)裝置的訊號線和負載線的接入、接出應按照基本操作要求進行,並模擬裝置的實際工作狀態；
b)裝置輸出端應與阻抗匹配的負載相連，負載的額定功率應不小於整機額定輸出功率2 倍～3 倍；
c)在訊號源和裝置之間，應加上隔離器或環形器；
d)嚴禁將大功率功放的輸出訊號通過合路器合路再進入負載的連線方式。
四、老化前的準備及注意事項：
a) 老化前應確認高低溫試驗箱裝置是否完好；
b) 當多台老化產品一起進行試驗時，各老化產品之間應有足夠的間隙，以使高低溫試驗箱sc/gdw內溫度有足夠的均勻性。
不應將老化產品堆積或擺放無序，以免影響老化效果和對產品造成損壞。
五、高溫老化溫度和時間：
高溫老化溫度、時間如下所示可任選一種：
a)室溫條件下通電連續老化不得少於 96 h；
b)40℃±2℃條件下通電連續老化不得少於72 h；
c)45℃±2℃條件下通電連續老化不得少於48 h；
d)50℃±2℃條件下通電連續老化不得少於24 h；
e)55℃±2℃條件下通電連續老化不得少於12 h。
六、高溫老化程式：
6.1對老化產品施加產品標準中規定的工作電壓。
6.2在老化產品通電的狀態下將高低溫試驗箱的溫度加熱至規定的試驗溫度，老化過程中的環境溫度變化應
在規定溫度的±2℃範圍內。
6.3 老化溫度達到規定值，恆溫後開始計時。
6.4 老化過程中應每隔2 h 檢視老化室的執行是否穩定，特別是測量溫度。老化過程中發現溫度異常
時，應立即切斷電源。待老化室恢復正常後再繼續進行老化。
6.5 老化產品在老化過程中應定時進行主要效能指標檢測，具體指標種類及引數在轉產檔案的技術說
明中規定。
a)常規產品老化,每 5h～6h 測試一次,並記錄測試時的溫度；
b)常規產品老化，採用抽測方式，每次測試的產品應不少於 10％；
c)遇到所測型號裝置存在問題時，武漢尚測提醒您應根據實際情況，增加該類產品的檢測數量，並不少於
10％。
6.6 老化過程中產品出現故障時，應在附錄a 的備註欄中詳細記錄故障情況。
6.7 老化後的產品在室溫下至少放置2 h 後，由生產計畫部進行複測，並做好測試記錄，合格後提交
檢驗部門檢驗。
6.8 單盤的測試在老化後進行，測試專案包括監控功能、輸出電壓值等。抽測數量應不少於20％，如
老化後有不合格的試驗樣品，該批次需全部測試。
注：本規範中的單盤指直接提供給使用者的單盤或模組。
七、標識：
a）老化測試合格的產品，應在產品易觀查的表面用綠色標籤做標識；
b）老化測試不合格的產品，應在產品易觀查的表面用紅色標籤做標識。
八、測試記錄：
8.1 根據測試的專案填寫老化測試記錄，見附錄a。
8.2 單盤老化測試記錄見附錄b。
8.3 老化測試記錄表應每月由指定人員歸檔。
九、高低溫試驗箱sc/gdw老化裝置維護要求：
9.1 老化試驗的所有測試器件應定期進行測試檢驗，
9.2 所有老化設施的檢測應每月進行一次,主要檢測專案為：
——老化裝置高低溫試驗箱溫控系統的校應；
——老化負載的駐波比測試；
——訊號源的輸出訊號準確度的測試；
——電源的輸出電壓測試。
9.3 測試結果應記錄，要有正規的、統一的格式。
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